基于扫描填充低功耗测试技术的研究的中期报告.docx

该【基于扫描填充低功耗测试技术的研究的中期报告 】是由【niuwk】上传分享，文档一共【2】页，该文档可以免费在线阅读，需要了解更多关于【基于扫描填充低功耗测试技术的研究的中期报告 】的内容，可以使用淘豆网的站内搜索功能，选择自己适合的文档，以下文字是截取该文章内的部分文字，如需要获得完整电子版，请下载此文档到您的设备，方便您编辑和打印。基于扫描填充低功耗测试技术的研究的中期报告本次中期报告是关于基于扫描填充低功耗测试技术研究的,旨在介绍研究的进展、存在的问题和下一步计划。一、:介绍了扫描填充低功耗测试技术的背景和意义,解释了该技术对提高芯片可靠性和测试效率的重要性。:对现有的扫描填充低功耗测试技术进行了综述和评估,分析了其优缺点,为研究提供了借鉴和参考。:提出了基于多输入编码的扫描填充低功耗测试技术方案,该方案通过利用扫描链和编码电路实现对测试数据的压缩和填充,从而减少芯片测试的功耗和时间成本。:完成了扫描填充低功耗测试技术的电路设计和仿真工作,采用Cadence软件对仿真结果进行了验证和分析,证明了该方案的可行性和有效性。二、:目前仅针对多输入编码技术进行了研究,需要深入探究扫描填充低功耗测试技术在其他场景下的适用性和效果。:需要对输入信号进行预处理和编码,带来了额外的电路设计和调试难度,需要寻找更加高效的方案。:目前使用的测试数据集较为简单,需要扩充数据集以验证方案的鲁棒性和通用性。三、:针对扫描填充低功耗测试技术在不同场景下适用性和效果的研究,构建更加完整的研究体系。:利用机器学****等算法优化编码电路设计,提高其效率和可控性。:构建更加丰富、多样和真实的测试数据集,提高方案的鲁棒性和通用性。:探究方案在实际芯片上的应用效果,并对方案进行调优和优化。