晶体管原理实验全书.doc

实验一三极晶体管与场效应晶体管的特性图示一、实验目的 。 。 、了解及分析晶体管特性曲线,为合理选取和使用晶体管打下基础。二、工作原理整机原理方框图见图 1。从图中可见,本机主要由集电极扫描电源,阶梯波发生器 X、Y 放大器,高频高压电路及低压供电电源几大部分组成。集电极电源提供被测管的扫描电压( C、E端) ,阶梯波发生器供给 B 端注入信号,通过 X、Y 放大器将电压及电流调理后供给由高频高压驱动加亮的示波管,显示出被测器件的特性曲线供观测。三、使用方法㈠面板(图 2) :调整图像亮度 :调整图像清晰度图12 :用以调整清晰度 ,按下“电源开”一端电源接通 :此灯亮表明仪器已接通电源 :按入显示 Y轴零参考点 :按入从零点上移 10度.(可用侧面“Y 增益”调准) 10. 垂直移位旋钮:顺时针时向上移 11. 水平偏转因数选择开关 12. 零点按钮:按入显示 X轴零参考点 :按入从零点右移 10度(可用侧面"X 增益"调准) A(左侧)的被测管水平位移旋钮 B(右侧)的被测管水平位移旋钮 1 :选择阶梯波每阶的幅度值 :选择阶梯的阶数 18. 按入状态——“ Ib=0 ”位置时,为零电流。使被测半导体管的基极处于开路状态 19. 按入状态——“ Vb=0 ”位置时,为零电压。使被测半导体管的基极处于短路状态 20. 串联电阻:当阶梯选择开关(16) 置于 V/度位置时,串联电阻将串联在被测半导体管的输入电路中。当阶梯选择开关置于 mA/ 度位置时阶梯信号不通过串联电阻 2 1. 扫描峰值电压调节旋钮:调至零点(逆时针到底)集电极施加电压为 0 ,并有解除保护功能。顺时针旋转可增加集电极扫描电压值 :置适当档位,以保护被测器件图23 ——扫描电压范围在 0~ 20V ——扫描电压范围在 0~ 500V ——二端测试电压范围在 0~ +5KV( 直流) 26. 当被测器件电流大于 Y 轴满度值 倍左右时保护指示灯亮,扫描电源关断。当需要再次测量时将峰值电压旋钮(21) 调回零点(保护指示灯灭)后再继续测试 27. 容性电流微调:平衡(小电流档时)接线及元件对地的杂散电容所引起的失真 Vd (0~ +5KV )输出端 29. 二端测试电压(0~ +5KV )电压接入指示 (阶梯极性)按入状态——扫描电压为负;弹出状态——扫描电压为正。本开关与 NPN (扫描极性按钮)为互动形式 32. NPN (集电极扫描极性控制按键)按入状态——阶梯为负极性;弹出状态——扫描电压为正。本开关与 PNP ( 31)为互动形式。 PNP 与 NPN 两按键可组合成四种输出状态 PNP (按键) NPN (按键) 阶梯信号极性集电极扫描极性备注低高负负高低正正低低负正键按到半程释放高高正负两键同时按到底 33. 测试盒插座:将需要的测试盒插头插入此插座后使用㈡注意事项在全面了解本机各个控制开关及旋钮之后, 下面便可实际操作, 首先要注意以下几点: ,首先检查电源连线是否连接良好,要将“测试选择”开关置“关”档位,集电极扫描信号中的“峰值电压”旋钮置零位置( 逆时针旋到底) 。严禁在“峰值电压”旋钮调高以后短路“E”、“C”两端,或“B”、“C”两端。 2. 在大电流测试和在高压测试时, 为保证器件安全和测试精度, 应尽量缩短加电时 4 间, 而且不能在测试状态下转换各种开关, 如需要改变测试状态, 应先将扫描峰值电压钮旋至最小,然后将测试选择开关置中间关断位置。 ,必须将“集电极扫描信号”部分极性置“+”。首先要将被测器件连接好, 再转入测试状态(Vd-5KV 红色指示灯亮)。在本项测试状态下和扫描电压大于 20V 档位的状态严禁操作者的任何部位接触被测器件和测试端子及金属带电部件以保证人身安全。严禁在“峰值电压”调高以后短路输出端。为保证被测器件安全,在高压测试时 Y轴电流档尽量选择小一些。两端测试电压不能超过 5000V(500V/ 度× 10度)后继续往高调。 4. 在测试高频半导体管输出特性时, 有可能产生自激震荡, 使波形不平坦, 出现失真, 或显示不清晰此时, 可用适当容值的电容(如 100 ~ 3000Pf) 接在被测管的 B、E间, 消除自激震荡。四、实验方法及步骤