材料分析考试习题大全.doc

材料分析方法****题
选择题
1. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )
A. Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
2. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( C )
A. Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
3. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称( A )
A. 短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线
,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生( D )
A. 光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)
( B )。
A. 劳厄法;B. 粉末法;C. 周转晶体法;D. 德拜法。
,试样为单晶体的是(D )
A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、 A和B
,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为( B)
A、(364) B、(234) C、(213) D、(468)
,指数相同的晶面和晶向(B )
A、相互平行 B、相互垂直 C、成一定角度范围 D、无必然联系
(111)与晶向指数(111)的关系是( C )。
A. 垂直; B. 平行; C. 不一定。
,晶面指数{100}包括几个晶面( B )。
A. 6; B. 4; C. 2 D. 1;。
( B )
;;;
12、对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是( A )
A、不存在系统消光 B、h+k为奇数 C、h+k+l为奇数 D、h、k、l为异性数
13、立方晶系{100}晶面的多重性因子为( D )
A、2 B、3 C、4 D、6
14、洛伦兹因子中,第一几何因子反映的是( A )
A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响
15、洛伦兹因子中,第二几何因子反映的是( B )
A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响
16、洛伦兹因子中,第三几何因子反映的是( C )
A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响
17、对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有( C )
A、112 B、113 C、101 D、111
18、对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有( C )
A、200 B、220 C、112 D、111
19、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是(E )
A、温度升高引起晶胞膨胀 B、使衍射线强度减小 C、产生热漫散射 D、改变布拉格角 E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小
20、衍射仪的测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30度角时,计数管与入射线成多少度角?(B)
A. 30度; B. 60度; C. 90度。
21、不利于提高德拜相机的分辨率的是( D )。
A. 采用大的相机半径; B. 采用X射线较长的波长; C. 选用大的衍射角;。
22、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是( C )
A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、以上均可
23、样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是( B )
A、1﹕1 B、2﹕1 C、1﹕2 D、没有确定比例
24、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是( C )
A、相机半径越大,分辨率越高 B、θ角越大,分辨率越高
C、X射线波长越小,分辨率越高 D、晶面间距越大,分辨率越低
25、粉末照相法所用的试样形状为( C )
A、块状 B、分散 C、圆柱形 D、任意形状
26、低角的弧线接近中心孔,高角线靠近端部的底片安装方法为( A )
A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、任意安装都可
27、以气体电离为基础制造的计数器是( D)
A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、A和B
28、利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光,而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为( C )
A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、锂漂移硅检测器
29、测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是( C )。
A. 外标法;B. 内标