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数字集成电路测试压缩与时延测试技术研究的中期报告.docx

文档分类：汽车/机械/制造 | 页数：约2页举报非法文档有奖

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该【数字集成电路测试压缩与时延测试技术研究的中期报告】是由【niuwk】上传分享，文档一共【2】页，该文档可以免费在线阅读，需要了解更多关于【数字集成电路测试压缩与时延测试技术研究的中期报告】的内容，可以使用淘豆网的站内搜索功能，选择自己适合的文档，以下文字是截取该文章内的部分文字，如需要获得完整电子版，请下载此文档到您的设备，方便您编辑和打印。数字集成电路测试压缩与时延测试技术研究的中期报告经过数月的研究和实践,本研究团队已经在数字集成电路测试压缩与时延测试技术方面取得了一定的进展。以下是我们的中期研究报告。一、研究背景随着集成电路设计的不断发展和芯片规模的不断扩大,传统的测试方法已经无法满足测试的需求,测试时间和成本也在不断增加。因此,对于测试压缩和时延测试技术的研究已经成为了当前热门的研究方向。二、研究目的本研究旨在通过对数字集成电路测试压缩与时延测试技术进行深入研究,探索新的测试方法,提高测试效率,降低测试成本。三、,我们发现,基于LFSR的压缩算法能够显著地提高测试效率,并且对测试结果的影响较小。,实验证明该算法能够准确地定位出主要时延路径并加速测试。,我们建设了一个完整的测试平台,并选择了常用的测试仪器和软件工具。四、研究结论通过本次研究,我们总结出以下结论:。。。五、下一步工作在本次研究中,我们对数字集成电路测试压缩和时延测试技术进行了初步探索。未来,我们将继续深入研究这两个方向,并寻求更加先进的测试算法和更加高效的测试方法。

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