新编电路板老化标准.docx

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某些系统具有很宽的数据总线,每一簇可同时读取多个器件,再由计算机主机或类似的机器对器件进行划分。增加老化板上的平行信号数量可提高速度,减少同一条平行信号线所连器件数,并且降低板子和器件的负载特性。???易失性内存(DRAM和SRAM)??易失性内存测试起来是最简单的,因为它无需特殊算法或时序就可进行屡次擦写。一般是所有器件先同时写入,然后轮流选中每个器件,读回数据并进行比较。??由于在老化时可重复进行慢速的刷新测试,因此DRAM老化测试能够为后测制程节省大量时间。刷新测试要求先将数据写入内存,再等待一段时间使有缺陷的储存单元放电,然后从内存中读回数据,找出有缺陷的储存单元。将这部份测试放入老化意味着老化后的测试制程不必再进行这种很费时的检测,从而节省了时间。???非易失性内存(EPROM和EEPROM)??非易失性内存测试起来比较困难,这是因为在写入之前必须先将里面的内容擦除,这样使得系统算法更困难一些,通常还必须使用特殊电压来进行擦除。不过其测试方法根本上是相同的:把数据写入内存再用更复杂的算法将其读回。??老化测试系统性能???有许多因素会影响老化测试系统的整体性能,下面是一些主要方面:??。?理想的情况是器件在老化制程上花费的时间最少,这样可以提高总体产量。恶劣的电性能条件有助于故障加速出现,因此能快速进行反复测试的系统可减少总体老化时间。每单位时间里内部节点切换次数越多,器件受到的考验就越大,故障也就出现得更快。??、PCB设计以及偏置电路的复杂性。?老化测试系统可能被有些人称为高速测试,但是,如果机械连接或老化板本身特性会削弱信号质量,那么测试速度将会是一个问题。如像过多机电性连接会增大整个系统的总电容和电感、老化板设计不良会产生噪声和串扰、而很差的引脚驱动器设计那么会使快速信号沿所需的驱动电流大小受到限制等等,这些都仅是一部份影响速度的瓶颈,另外由于负载过大并存在阻抗、电路偏置以及保护组件值的选择等也会使老化的性能受到影响。??。?有些老化测试系统采用分区方法,一个数据采集主机控制多个老化板,另外有些系统那么是单板式采集。从实际情况来看,单板式方法可以采集到更多数据,而且可能还具有更大的测试产量。??。?有些老化测试系统有自己的测试语言,对需要做100%节点切换的被测器件不用再开发程序;而有些系统能够把高速测试仪程序直接转换到老化应用上,可以在老化过程中进行更准确的测试。???。?如果老化测试系统能进行一些速度测试,那么还可得到其它一些相关失效数据以进行可靠性研究,这也有助于精简老化后测试制程。??,如电压与频率。?如果老化测试系统能够实时改变参数,那么可以加快通常属于产品寿命后期阶段故障的出现。对于某些器件结构,直流电压偏置及动态信号的功率变动都可加速出现晚期寿命故障。??。?由于功能测试程序非常长,因此测试硬件的设计应尽可能提高速度。一些系统使用较慢的串行通讯,如RS-232C或者类似协议,而另一些系统那么使用双向并行总线系统,大大提高了数据流通率。??结束语???在老化过程中进行测试会带来一些本钱问题,但最困难的是找出一个测试方法完成器件所有可能的测试工程。??对逻辑产品而言,JTAG法是一种最通用的老化测试方式,因为器件上的测试埠是一致的,这样老化硬件线路就可保持不变。??对内存而言,在小批量情况下,最好是能有一种对易失性和非易失性内存都能进行处理的测试系统;而在大批量情况下,那么最好是采用不同的系统以降低本钱。