对真空断路器电寿命能力的探讨.doc

对真空断路器电寿命能力的探讨
摘要:通过分析2002~2006年间约500多份型式试验报告、原始记录及试验波形,并且跟踪一台合成试验用辅助断路器单极一年多的开断情况,认为就目前的生产工艺和制造水平而言,真空断路器的开断潜力还远远没被彻底发现。
关键字:真空断路器真空灭弧室电寿命电磨损短路开断试验
引言:
真空断路器以其熄弧能力强,燃弧时间短,触头磨损小,机械寿命长,维护量小,灭弧室更换容易等一系列特点深受用户的青睐,。运行部门常将真空断路器在型式试验时通过的机械寿命次数及额定短路电流开断次数(即电寿命)作为维修及灭弧室更换的依据[1~2]。上世纪90年代中期曾有厂家对12kV真空断路器产品进行过75次额定短路开断电流试验,至于更高电压等级产品,或者更多开断次数的验证,由于试验费用太高,没有厂家愿意负担这样的研发成本,所以并没有进一步深入研究。通过分析2002年至2006年5年间的约500份型式试验报告、原始记录及试验波形,并且跟踪记录一台合成试验用辅助断路器单极一年多的开断情况,进一步的研究和验证了真空断路器极限电寿命能力。请登陆:高压开关网浏览更多信息
型式试验报告的分析结论:
查阅500余份真空断路器及开关柜的型式试验报告及原始记录后发现,共有75台次真空断路器试品在短路开断试验过程中出现问题。分析发现:发生问题试品的开断次数区段有这样一个规律:试验产品随着开断次数的增加,试验失败率反而在大大减少。其中,发生问题
的开断次数区间在1~%,11~%,21~%,30次以上的为0%,见表1。来源:高压开关网
表1:试验出现问题区段分布表
来源:高压开关网规律:试验产品随着开断次数的增加,试验失败率反而在大大减少。其中,发生问题的开断次数区间在1~%,11~%,21~%,30次以上的为0%,见表1。开断失败的原因很多[3~4],主要有:①开关装配调试不当,如灭弧室安装偏心,紧固螺丝松动,反弹或弹跳过大;②机构可靠性差,行程特性曲线不理想;③灭弧室内部缺陷,如真空度不合格,老炼不充分等。从表1可以看出,开断试验中大部分问题出现在电寿命试验开始阶段,一旦度过这段过程,熄弧失败的几率就开始减小。失败的原因尽管不排除灭弧室本身问题,但现在真空灭弧室的生产工艺和制造水平已相当成熟,合格率相当高,而且出厂时还要经过数次高电压、小电流的充分老炼,多道真空度检测工序,出现问题的概率应该说很小。其实就算是由于灭弧室自身的缺陷造成开断失败(如熔焊、未灭弧),包括触头材料内部大量排气造成真空度下降,或者触头材料熔化后产生的金属微粒飞溅使灭弧性能下降等原因,也应该是随着开断次数的增多,失败几率逐渐增加。可事实恰好相反。开断30次以上的试品都通过了电寿命试验,甚至是同一台产品连续成功做了两轮电寿命试验,即同时满足文[5]要求的274次E2级延长的电寿命试验和文[6]要求的满容量开断30次的电寿命试验。来源:
由此可见,短路开断失败的关键因素并不在灭弧室本身,而在于断路器设计存在缺陷,或者装配调试过程中的不认真及人为疏忽等方面。可以说,一台设计合理、装配合格且调试良好的开