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文档介绍
实验五触发器逻辑功能测试
三、实验仪器及器件:
数字电路实验箱
74LS00、74LS74、74LS76芯片各一片
四、实验内容:
1、用与非门构成SR锁存器,并测试其功能,画出实验电路图并记录测试结果。
SR锁存器功能测试结果记录
S
R
Q
Q’
1
1→0
0→1
1→0
1
0→1
0
0
2、测试74LS74双D触发器的逻辑功能
(1) 测试直接置位端(SD’)、直接复位端(RD’)的作用
任取74LS74中的一只D触发器, SD’、RD’、D端接逻辑开关输出插口,CP端接单次脉冲源,Q和Q’端接到逻辑电平显示输入插口。改变SD’和 RD’(CP、D处于任意状态),并在SD’=0(RD’=1)或RD’=0 (SD’=1)作用期间任意改变D及CP的状态,观察Q和Q’端的状态,记录结果于下表中。
(2) 测试D触发器的逻辑功能
当RD’= SD’= 1时,用CP脉冲控制D触发器,将测试结果记录在表2中。
CP端接单次脉冲或逻辑开关输出插口。
(3) 将D触发器的Q’端与D端相连,构成翻转功能的T 触发器,CP接1Hz信号,观察Q端状态。
3、测试74LS76双JK触发器的逻辑功能
(1) (2) 测试内容与过程(1) (2)同74LS74的测试内容类似,仿照进行。
(3) 将JK触发器的J、K端连在一起,构成T触发器。在CP端输入1Hz连续脉冲,观察Q端的变化。
五、思考题:
,测试触发器的逻辑功能时SD’和RD’应处于什么状态?
,在CP=1,D=0的条件下,如何使触发器置“1”?
三、实验仪器及器件:
数字电路实验箱
74LS00、74LS74、74LS76芯片各一片
四、实验内容:
1、用与非门构成SR锁存器,并测试其功能,画出实验电路图并记录测试结果。
SR锁存器功能测试结果记录
S
R
Q
Q’
1
1→0
0→1
1→0
1
0→1
0
0
2、测试74LS74双D触发器的逻辑功能
(1) 测试直接置位端(SD’)、直接复位端(RD’)的作用
任取74LS74中的一只D触发器, SD’、RD’、D端接逻辑开关输出插口,CP端接单次脉冲源,Q和Q’端接到逻辑电平显示输入插口。改变SD’和 RD’(CP、D处于任意状态),并在SD’=0(RD’=1)或RD’=0 (SD’=1)作用期间任意改变D及CP的状态,观察Q和Q’端的状态,记录结果于下表中。
(2) 测试D触发器的逻辑功能
当RD’= SD’= 1时,用CP脉冲控制D触发器,将测试结果记录在表2中。
CP端接单次脉冲或逻辑开关输出插口。
(3) 将D触发器的Q’端与D端相连,构成翻转功能的T 触发器,CP接1Hz信号,观察Q端状态。
3、测试74LS76双JK触发器的逻辑功能
(1) (2) 测试内容与过程(1) (2)同74LS74的测试内容类似,仿照进行。
(3) 将JK触发器的J、K端连在一起,构成T触发器。在CP端输入1Hz连续脉冲,观察Q端的变化。
五、思考题:
,测试触发器的逻辑功能时SD’和RD’应处于什么状态?
,在CP=1,D=0的条件下,如何使触发器置“1”?
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