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201111非晶丝材料磁阻抗特性测量系统研制
实验技术与管理第 2 卷第 1 期 2 1 年 1 月 I S 0 2-4 5 S N1 0 96 8 1 01 1 C 1 N 1-2 3 / E prm na eh oo ya d M n g m n V l2 04 T x ei etlT c nlg n a a e et o .8 N .1 N v 2 1 o1 o . 01
仪器设备研制与应用
非晶丝材料磁阻抗特性测量系统研制
王立锦1 ,周毛毛2 ,龚占双1 ,丁毅寿1 ,李希胜2 ,于广华1
( 北京科技大学材料科学与工程学院,北京 1 0 8 ; 北京科技大学信息工程学院,北京 1 0 8 ) 1. 0 0 3 2. 003
摘要:将幅频/相频分析专用集成电路芯片 A 8 0 用于非晶丝磁阻抗特性的测量中, 合磁场自动扫描结 D 32 技术、计算机自动数据采集技术设计制作了磁阻抗特性测试系统, 现了非晶丝磁阻抗特性的自动化测量。实该系统集样品信号驱动调理、数据采样、数据处理、参数计算等功能于一体, 试范围宽、度高、户界面友测精用打印机上绘出被测样品的磁阻抗特性曲线, 生成标准数据文件并好。数据采集控制软件还能在计算机屏幕、效果良好。供 O I I 等数据处理软件调用。对实际非晶丝样品进行了测试分析, RGN 关键词:非晶丝;磁阻抗;V 语言;计算机辅助测试;幅/相分析技术 B 中图分类号: B 8 - 3 文献标志码:A 文章编号: 0 24 5 (0 1 1 2 0-0 T 3 33 1 0 - 9 6 2 1 )1-0 8 6
Dvlp et fm geo m eac hrc rt ee m n ant- pdnecaat ii o o i e sc maue et ytmo m rhu i esrm n s a oposwr s e f e
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( S h o aei sSinea dE gneig U ies yo c nea dT c nlg eig Bin 0 0 3, hn ; 1. c ol f M tr l c c n nier , nvri fSi c n eh oo yBin , eig1 0 8 C ia o a e n t e j j 2. c ol f no m t nE gneig U ies yo c nea dT c nlg eig , eig1 0 8 , hn ) S h o fr a o nier , nvri fSi c n eh oo yBin Bin
0 0 3 C ia oI i n t e j j A s at T ea p ct no pci itgae ru hp A 8 0 fa p td /p aea ayi i sdfr bt c : h pl a o s eic nertdc ci ci D 3 2o m l u e hs nls ue o r i i f f i t i ss tem g eo m ea c esr m n yt m o m r h u ie yc m iig m g e cf l fat m t h a nt - pd ne m aue etsse fa op o s wr .B o bnn a nt i d o uo a c i i e i e l i i i sa nn c nlg n o p trat m tddt o et ntc nlg , h yt m ra zsat m t igt h oo ya dc m ue uo ae aacl c o eh oo y tesse el e uo a c m a - ue eto e m r h u iem g eo m ea c hrcei is T e yt mgtes h nt n m l r m n f h op o swr a nt - pd ne aatr t . h se ahr e u c o s f a pe t a i c sc s t f i os r t i c i s nl o d inn i u , a p n aa poesn aaa d clua n aa eestgte ,a d hsa i a ni oig c ci s m l g dt , rcsig dt n a lt g pr m tr o ehr n a g c t s f e dy nefc , i