基于ieee 1500的层次型soc测试技术研究a hierarchical soc test technology research based on ieee 1500.docx

目 录
摘 要 I
Abstract II
第一章引言 1
研究背景及意义..................................................................................................... 1
国内外研究现状..................................................................................................... 2
本课题研究内容..................................................................................................... 4
第二章层次型 SoC 测试相关技术 5
IEEE 1500 标准的结构与规范 5
IEEE 1500 标准的测试环 5
IEEE 1500 测试指令 7
IEEE 1500 标准工作模式 8
IEEE 1500 标准的测试架构 10
核测试语言 CTL 12
测试访问机制 TAM 14
层次型 SOC 的测试结构 16
层次型 SoC 的多层 TAM 架构 16
层次型 SoC 的 Wrapper 架构 17
本章小结............................................................................................................... 17
第三章层次型 IP 核测试环单元的设计 18
1500 标准的测试环单元结构.............................................................................. 18
测试环单元的改进问题的提出........................................................................... 19
层次型 SoC 与平面 SoC 测试的区别 19
层次型 SoC 测试调度模型 20
测试环单元的改进设计....................................................................................... 20
测试环单元改进问题的提出................................................................... 20
测试环单元改进设计............................................................................... 22
改进后的层次型 SOC 测试架构 23
本章小结............................................................................................................... 24
第四章测试控制器设计 25
方案论证............................................................................................................... 25
测试控制器的架构设计....................................................................................... 26
命令寄存器............................................................................................... 28
III -
测试方式寄存器....................................................................................... 30
时间设置模块................................