电阻抗断层成像中驱动和测量模式程控系统的设计.doc

电阻抗断层成像中驱动和测量模式程控系统的设计
作者:尤富生董秀珍秦明新史学涛付峰刘锐岗汤孟兴李江吴晓明
【关键词】电阻抗断层成像
关键词:电阻抗断层成像;电极;多路开关
摘要:目的在电阻抗断层成像技术中,为实现多电极条件下的激励和测量信号依据不同的需要进行加载和高速切换,、,、低导通电阻、各通道一致性好的特点.
Keywords:electricalimpedancetomography;electrodes;multiplexer
Abstract:AIMInelectricalimpedancetomography(EIT),,ircuitsandoptic-elec-,an
┐CLUSIONBasedonhighspeedCMOSmultiplexer,thepro-grammablecontrolsystemfordrivingandmeasurementmodehasthefeatureofhighspeed,lowRonandmatchingbetterforallchannels.
0引言
电阻抗断层成像(electricalimpedancetomogra-phy,EIT)就是在成像目标表面施加安全的交流激励电流或电压,同时测量目标表面的电压或电流信号,,EIT具有造价低、操作简便、功能成像及动态图像监护等特点[1-6].目前EIT中通常采用16,32或64个驱动及测量电极,如何将激励源输出的激励信号加载到这些驱动电极上,并按一定的方式将测量电极上的信号传输到信号检测模块,是驱动测量模式控制系统完成的主要功能.
1设计方法
在我们设计的有32个复合电极的EIT系统中,驱动模式要求有临近驱动(adjacentdrivingmode)和对向驱动(opposite/polardrivingmode)两种模式;测量模式要求有临近测量(adjacentmea