XXX公司XX/840-004B№:L2017003计量型MSA分析报告日期:2017年2月23日实施人:陈秋凤、雷丽花、欧阳丽敏评价人:张志超仪器名称:数显卡尺(中间检验)XXX仪器编号:分析结论:合格不合格审核:批准:计量型MSA分析报告目录稳定性,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,1偏倚,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,4线性,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,7重复性和,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,9再现性备注:,用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性进行测量所获得的总变差,即稳定性是整个时间的偏倚变化。试验方案2017年02月份,随机抽取一常见印制板样品,让中间检验员工每天的早上及晚上分别使用数显卡尺对样品外形尺寸测量5次/组,共测量25组数据,并将每次测量的数据记录在表1。数据收集表1稳定性分析数据收集记录表操作者陈秋凤测量日期2017-02-04~2017-02-20测量结果/单位:-02-04~2017-02-20测量结果/单位:;连续7点位于中心线同一侧;连续6点上升或下降;连续14点交替上下变化;连续3点有2点距中心的距离大于两个标准差;连续5点中有4点距离中心线的距离大于一个标准差;连续15点排列在中心线的一个标准差范围内;连续8点距中心线的距离大于一个标准差。第2页/共13页XX公司质量部数据分析中间检验_数显卡尺(0-150mm)的Xbar-R控制图+3SL=+2SL=+1SL==-1SL=-2SL=-3SL=+3SL=+2SL=+1SL==-1SL=-2SL=-3SL=0135791113151719212325样本图1中间检验_数显卡尺Xbar-R控制图从图1Minitab生成Xbar-R控制图可知,没有控制点超出稳定性可接受判定标准,表明该测量系统稳定性可接受。测量系统稳定性分析结果判定对中间检验_数显卡尺进行稳定性分析,分析结果表明该测量系统稳定性可接受。第3页/共13页XX公司质量部第二节偏倚分析偏倚分析概述对相同零件上同一特性的观测值与真值(参考值)的差异。试样方案选择一个被测样品,确定样品的外形尺寸基准值x,样品外形尺寸基准值通过__铣边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量
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