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材料分析实用技术小结.doc


文档分类:医学/心理学 | 页数:约3页 举报非法文档有奖
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材料分析实用技术小结.doc:..xrd:x射线衍射分析,它可以用來分析品体结构的物和,也就是品体的各成分的存在的形态,价态和状态。此处用的是一定频率的X射线,也即特征X射线。X射线与晶体相互作用时,发生衍射,用布拉格公式描述。2dsin(a)=,劳埃法,旋转晶体法,粉末法。劳埃法适合于单晶,用于对称性测量以及晶体定向;旋转晶体法用于测量晶体的结构;粉末法则用于物相分析,和点阵测定。什么是物相分析?X射线晶休照射到晶体所产牛的衍射具有一定的特征,可丿IJ衍射线的方向及强度表征,根据衍射特征來鉴定晶体物相的方法称为物相分析法。材料性能不是简单地由英元索或离子团的成分所决定,而是由这些成分所组成的物相、各物相的相对含最、品体结构、结构缺陷及分布情况情况等因素所决定的。为了研究材料的相组成,和结构、相变及结构对性能的影响,确定最佳的配方与牛产工艺,必须进行物和分析任何结晶物质都有其特定的化学组成和结构参数(包括点阵类型、晶胞大小、晶胞中质点的数目及坐标等)。当X射线通过晶体时,产生特定的衍射图形,对应一系列特定的而间距d和相对强度1/11值。其中d与晶胞形状及大小冇关,1/11与质点的种类及位置冇关。所以,任何一种结品物质的衍射数据d和1/11是其品体结构的必然反映。XRD图谱的三个最重要信息:•峰位晶面间距•峰强晶面数量〜相对含量与取向•:朗伯•比尔定律是紫外•可见分光光度法的理论基础。它是利用物质的分子或离子对某一波长范围的光的吸收作用,对物质进行定性分析、定量分析及结构分析,所依据的光谱是分了或离了吸收入射光中特定波长的光而产生的吸收光谱。朗伯•比尔定律:当一束平行单色光通过含冇吸光物质的稀溶液时,溶液的吸光度与吸光物质浓度、液层厚度乘积成正比,即A=KC/式中比例常数K与吸光物质的本性,入射光波长及温度等因索有关。C为吸光物质浓度,/为透光液层厚度。透光度:透光度为透过光的强度It与入射光强度10Z比,用T表示:即 T=lt/10吸光度:为透光度倒数的对数,用A表示,即A=|gl/T=lglO/lt正电子湮没技术(PAT)通过测量正电子与材料中电子湮没时所发射出的谢线的角度、能量以及正电子与电子湮没前的寿命,來研究材料的电子结构和缺陷结构量子电动力学证明,p-Ps寿命较短,只有125ps,但o-Ps寿命较长,在真空屮为142ns正电子和电子的湮没特性不仅与介质中电子浓度有关,还和电子动量分布有关湮没辐射的线形反映了物质中电了的动屋分布。而物质结构的变化将引起电了动量分布的变化。所以测最正电子湮没如关联曲线和多普勒展宽谱可以研究物质微观结构的变化。线形参数法的基本思想是用能谱的各种线形参数來表示实测谱的形状特征,根据线形参数的变化來对样品材料中与缺陷有关的各种问题进行研究。各种半导体材料屮的空位型缺陷是可能的正电了捕获中心,因而可以用PAT研究各种情况下半导体中空位型缺陷的产生、迁移、合并、(SQUID):把待测物品放在射频场中,从而物体内部便产生了涡流,而涡流的产生又会产生一个相应的磁场•如果前面的射频场我们清楚的话,那么后面的磁场我们也就可以计算出来,如果周围介质分布均匀•但是如果介质中出现缺陷的话,

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  • 时间2019-10-13