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2013年全国大学生电子设计竞赛简易频率特性测试仪(E).docx


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2013年全国大学生电子设计竞赛简易频率特性测试仪(E)【本科组】2013年9月6日摘 要本作品以 FPGA和单片机为控制核心及数据处理核心,采用高分辨率DDS9854芯片产生1MHz-,其频率稳定度、幅度平衡误差、幅度平坦度及扫频时间均满足要求。通过精确的参数选择制作的 RLC串联谐振电路其中心频率误差、有载品质因数、有载最大电压增益符合设计要求。利用零中频正交解调原理,经乘法器、 低通滤波器、A/D转换后将信号送入 FPGA控制模块运算得到被测 RLC网络的幅频特性和相频特性数据,最终在液晶显示屏和示波器上同时显示幅频特性和相频特性数据及曲线。用键盘通过单片机控制系统设置点频、扫频步进和扫频频率范围,人机交互界面友好。报告中阐明了软硬件设计依据及相关电路, 给出了系统功能和性能测试结果。关键词:正交解调原理;扫频;频率特性测试仪; FPGA;DDS-I-puterasthecontrolcoreandthedataprocessingcore,usinghighresolutionDDS9854chipgenerate1MHzto40MHzanyfrequencyorthogonalscanningsignal,,amplitudebalanceerror,,producedtheRLCseriesresonantcircuit,whosecenterfrequencyerror,loadedqualityfactor,,makethesignalthroughthemultiplier,lowpassfilter,A/Dconversioninturn,work,,sweepfrequencystepandsweepfrequencyrange,italsohasfriendlyman-,:Quadraturedemodulationprinciple,sweepfrequency,frequencycharacteristictester,FPGA,DDS-II-目录1方案比较与选择............................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................32理论分析与计算.....................

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  • 时间2019-11-11