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TEM原理实验————————————————————————————————作者:————————————————————————————————日期: 实验二透射电镜结构原理及明暗场成像一实验目的1结合透射电镜实物介绍其基本结构及工作原理,以加深对透射电镜结构的整体印象加深对透射电镜工作原理的了解。2选用合适的样品,说道明暗场像操作的实际演示,了解明暗场成像原理。二实验原理:1TEM中电子衍射原理电镜中的电子衍射,其衍射几何与X射线完全相同,(反射球),—种具有高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。被广泛应用于材料科学等研究领域。透射电镜以波长极短的电子束作为光源,电子束经出聚光镜系统的电磁透镜将其聚焦成一束近似平行的光线穿透样品,再经成像系统的电磁透镜成保和放大,然而电子束投射到主镜筒最下方的荧光屏上而形成所观察的图像。在材料科学研究领域,透射电镜主要可用于材料微区的组织形貌观察、晶体缺陷分析和晶体结构测定。 图2-1TEM成像原理从左至右依次为高放大率、衍射、低放大率、-2TEM与光学显微镜结构原理比较TEM由电子光学系统、电源与控制系统及真空系统三部分组成。电子光学系统通常称镜筒,是透射电子显微镜的核心,它的光路原理与透射光学显微镜十分相似,如图所示。它分为三部分,即照明系统、成像系统和观察记录系统。aiG220透射电子显微镜(见图2-3)仪器介绍:aiG220透射电子显微镜是当今很先进的200kV分析电镜,该仪器采用LaB6灯丝,具有很高的亮度。结构紧凑、完美的电子光学系统,全自动的计算机控制,确保仪器长期的稳定性。在该设备上还配有EDAX能谱系统,可以进行原位的元素成分分析。ai G2 20采用特殊设计,可以快速有效地采集和处理信号,并将高分辨图像、明场/暗场图像、STEM图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来。aiG220包括一个既可得到高分辨图像又可以保持高倾角(最大40o)的S-TWIN物镜, puStage样品台。aiG220为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。主要附件:TWIN物镜系统,EDAX能谱系统,D相机,低背底侧插双倾台技术参数:LaB6灯丝或钨灯丝放大倍数25x-1100000x样品最大倾角+/-40°::ai G2 20透射电子显微镜采用的是肖特基场发射枪,是计算机控制的全数字化电镜,具有全自动化的数据采集和数据处理系统,以及标准的数据和图像的传输及打印接口。ai G2 20主要用于透射电镜样品形貌,相应选区电子衍射观察;高分辨电子显微像观察;配合特征X射线能谱仪(EDS)进行纳米尺度成分分析。图2-,是电镜的最基本组成部分,是用于提供照明、成像、显像和记录的装置。整个镜简自上而下顺序排列着电子枪、双聚光镜、样品室、物镜、中间镜、投影镜、观察室、荧光屏及照相室等。通常又把电子光学系统分为照明、成像和观察记录部分。,一是用于电子枪加速电子的小电流