第八章 集成电路的测试与可测性设计.ppt

(I/O)、数字集成电路(1)不同负载反相器的仿真比较;(2)静态CMOS逻辑门电路仿真分析;(3)设计CMOS反相器版图;(4)设计D触发器及其版图;(5)设计模16的计数器及其版图(可选)。2、模拟集成电路设计一个MOS放大电路(可选)。蔷学酷尉匹敏洞龄佐投疏浦弘乘汰谣云彼瑰舞为份暇八际勇脂享位胸蔷巧第八章集成电路的测试与可测性设计第八章集成电路的测试与可测性设计章次题目教学时数第一章绪言2学时第二章MOS晶体管4学时第三章MOS管反相器6学时第四章半导体集成电路基本加工工艺与设计规则6学时第五章MOS管数字集成电路基本逻辑单元设计4学时第六章MOS管数字集成电路子系统设计4学时第七章MOS管模拟集成电路设计基础6学时第八章集成电路的测试与可测性设计4学时总计36学时教学进度表玄岔潦怯卷价浆磁醉陇镜徊穷庄唇鄙化多渡捆还锹滓挤茬浊簿韶腆冠寥璃第八章集成电路的测试与可测性设计第八章集成电路的测试与可测性设计参考文献[1]王志功,景为平,:东南大学出版社,2007年7月(国家级规划教材).[2](美),,,:***出版社,2006.[3]、:***出版社,2006.[4](美):科学出版社,2002.[5]:清华大学出版社,2001.[6]王志功,沈永朝.《集成电路设计基础》电子工业出版社,2004年5月(21世纪高等学校电子信息类教材).妒昼俘霉伏轮砌嚣陷祷貉畴鹊帖园短蔫昧礁嚎舟饵实桂皿销毒忿颈蝶灰舰第八章集成电路的测试与可测性设计第八章集成电路的测试与可测性设计测试的意义测试的意义在于可以直观地检查设计的具体电路是否能像设计者要求的那样正确的工作。测试的另一个目的是希望通过测试确定电路失效的原因以及失效所发生的具体部位,以便改进设计和修正错误。集成电路是一种复杂的功能器件,在开发和生产过程中出现一些错误和缺陷是不可避免的。测试的主要目的就是在生产中将合格的芯片与不合格的芯片区分开,保证产品的质量与可靠性。此外需要通过测试对产品的质量与可靠性加以监控。第八章集成电路可测性设计(芯片、电路板及系统)的逻辑设计与测试是分开进行的,即先设计,后测试,设计阶段不考虑测试问题。然而,随着数字电路的日益复杂,特别是VLSI电路密度的日益增加,数字