包一技术参数表.doc

包一技术参数表.doc包一技术参数表序号仪器名称技术参数与要求数量1QLED器件寿命测试系统设备的主要用途、功能及特点本系统是针对QLED亮度电流电压(L-J-V)和器件寿命测试的一体化系统,可以即时显示电压、电流、亮度等测试参数和测试曲线,并可以在4个测试通道中切换并定时自动进行数据采集,极大地方便了器件的寿命测试。*N6705B型直流电源分析ft(KeysightTechnologies)配备4个通道精密直流电源模块。*精密电源/测量单元电压最高为50V,电流最高为3A,完全满足器件驱动和测试的要求。*%+50pV,高达18bits。*%+8nA,高达18bits。,可以满足更多样的驱动和测试需求。*4套818-UV/DB型UV增强硅光电探测器(Newport)可以在200-1lOOnm波段实现准确地接收和测试,覆盖了整个可见光段及近紫外和近红外发光的测试需示,满足器件4个通道的寿命测试。*探测器有效探测面积为1cm%*各波段最大可探测强度分别为:(200-400nm);50mW(400-1100nm)*各波段测试误差分别为:4%(200-219nm),2%(220-349nm),1%(350-949nm),4%(950-1100nm)*2936-R型光功率/能量ii(Newport)配备双通道测试模块,%,电流灵敏度可达250nA,DC准确度通常小于±%。*测试腔体技术参数:测试腔可以控制腔内的温度和湿度变化,实现不同测试环境的要求。温度调节范围为15-90°C,湿度调节范围为l-90%RH,采用误差小于1%RH高精度湿度传感器。测试腔体要求具有电源接口,可与外界设备相连接。*夹具技术参数:器件测试夹具为镀金针脚全阵列的测试台,对器件的不同电极分布具有很强的兼容性和可靠性。夹具自带电路系统,和镀金针脚相连接,并输出到自带电路接曰,方便与其他设备对接。可以固定4个硅探测-器;并能同时放入4个器件并固定。*控制软件:控制软件采用Labvievv系统;可以即时显示电压、电流、亮度等测试参数和测试曲线;可以在不同测试通道中切换并定时自动进行数据采集。*需要配备两条GPIB-USB连接线,四条GPIB-GPIB连接线,鳄鱼夹,香蕉接口数据线。,微电脑液晶显示;智能