《材料近代分析方法》总复习.docx

《材料近代分析方法》总复****第一篇 X射线衍射部分第二篇 电子显微分析第一篇 X射线衍射部分一、X射线的性质二、X射线衍射方向及强度三、晶体分析方法四、X射线衍射的应用一、、性质、①连续X射线谱连续X射线谱的规律波长连续变化;Ø 短波限;Ø ;管电压不变,λm、λ0不变②①宏观效应——X射线强度衰减②微观机制——X射线被散射和吸收X射线的吸收:两种表现形式:光电效应Ø ?如何选择滤波片?吸收限(λk为吸收限)滤波片的选择:它的吸收限位于辐射源的Kα和Kβ之间,且尽量靠近Kα。二、(n=0,1,2,3,……)Ø 晶体结构分析:由λ,θ得到d,获得晶体结构特点Ø X射线光谱学:由d,θ得到λ, 入射角θ老埃法 单晶体 变化 不变化周转晶体法 单晶体 不变化 变化粉末法 多晶体 不变化 变化衍射花样的指标化 入射角正炫平方比=干涉面指数平方和比四、Ø 点阵常数精确测定中的关键是θ角,尽量选择高角度的θ角。Ø 点阵常数精确测定常用衍射仪法。Ø 数学处理方法。——三强线的d-I数据组与PDF卡片对照。几种索引方法的比较。。θ角变化---晶面间距变化---反映的是应变---换算成应力。第二篇 电子显微分析部分第七章电子光学基础第八章透射电子显微镜第九章复型技术第十章电子衍射第十一章晶体薄膜衍衬成像分析第十二章扫描电子显微镜第十三章电子探针显微分析第十四章其它显微分析方法简介第七章电子光学基础电磁透镜的缺陷——像差产生原因:球差、像散、色差•电磁透镜分辨率取决于球差和衍射效应的综合影响。电磁透镜的景深电磁透镜的焦长第八章透射电子显微镜物镜物镜形成第一幅高分辨率电子显微图像或电子衍射花样的透镜,决定TEM的分辨率!成像操作与衍射操作成像操作——中间镜物平面和物镜像平面重合时,得到放大像;衍射操作——中间镜物平面和物镜背焦面重合时,得到电子衍射花样。三个光阑:第二聚光镜光阑、物镜光阑和选区光阑,其位置和作用各不相同。第九章复型技术一、质厚衬度成像原理质厚衬度基础原子对入射电子的散射——弹性散射是透射电子显微镜成像的基础;TEM小孔径角成像二、:只能提供样品