材分的名词解释填空.doc

一、:指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。:X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离,此时原子(实际是离子)处于激发态,将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程,此过程发射的电子。3、背散射电子:入射电子被样品原子散射回来的部分;它包括弹性散射和非弹性散射部分;背散射电子的作用深度大,产额大小取决于样品原子种类和样品形状。:入射离子轰击固体时,当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时,就引起表面粒子(原子、离子、原子团等)的发射,这种现象称为溅射。:指确定材料(样品)由哪些相组成。:能使电子束聚焦的装置。:样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别,均可引起相应区域透射电子强度的改变,从而在图像上形成亮暗不同的区域,这一现象称为质厚衬度。:当有机化合物的结构发生变化时,其吸收带的最大吸收峰波长或位置(最大)向短波方向移动,这种现象称为蓝移(或紫移,或“向蓝”)。:键长变化而键角不变的振动,可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。:指在程序控制温度条件下,。:即球面像差,是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电11、球差经电子光学系统以子的折射能力不同造成的。轴上物点发出的光束,后,与光轴成不同角度的光线交光轴于不同位置,因此,在像面上形成一个圆形弥散斑,这就是球差。使得只有未散射的透射明场像:用另外的装置来移动物镜光阑,12、电子束通过他,其他衍射的电子束被光阑挡掉,由此得到的图像:或是只有衍射电子束通过物镜光阑,投射电子束被光阑、暗场像13挡掉,由此得到的图像射线传播方向的单位面积上在单位X、X射线的强度:是指行垂直14。时间内所通过的光子数目的能量总和。常用的单位是J/、:构振幅不同而形成电子图像反差。:在程序控制温度条件下,测量物质的质量与温度关系、热重法16的一种热分析方法。射线的散射强度,由于衍射强度X:是指一个单胞对17、结构因子因此可通消光即相当于衍射线没有强度,正比于结构因子模的平方,来研究消光规律过结构因子是否为0:键长不变而键角变化的振动,。二次离子:固体表面原子以离子态发射叫做二次离子。。2=0F::就是将样品表面形貌复制下来的薄膜复制品。:指确定材料由哪些相组成(即物相定性分析或称物相鉴定)和确定各组成相的含量(常以体积分数或质量分数表示,即物相定量分析)。:某一键或基团的振动频率有其特定值,它虽然受周围环境的影响,但不随分子构型作过大的改变,这一频率称为某一键或基团的特征振动频率。:指在程序控制温度条件下,测量物质(样品)与参比物之间的功率差随温度或时间变化的函数关系的技术。:当X射线的波长足够短时,起光子的能量就很大,以至能把原子中处于某一能级上的电子打出来,而它本身则被吸收。它的能量就传递给该电子了,使之成为具有一定能量的光电子,并使原子处于高能的激发态。:入射线与衍射线的交角。:产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。28、像散:由透镜磁场的非旋转对称引起的像差。29、色差:由于电子的波长或能量非单一性所引起的像差,它与多色光相似,所以叫做色差。30、吸收电子:入射电子进入样品后,经多次非弹性散射,能量损失最后被样品吸收。,没有透射电子产生)(假定样品有足够厚度,殆尽吸收电流像可以反映原子序数衬度,同样也可以用来进行定性的微区成分分析。31、特征X射线:原子的内层电子受到激发以后,在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。利用特征X射线可以进行成分分析。32、二次电子:二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。二次电子来自表面50-100?的区域,能量为0-50eV。它对试样表面状态非常敏感,能有效地显示试样表面的微观形貌。33、分辨率:是指成像物体上能分辨出的两个物点的最小距离34、景深:是指当成像时,像平面不动,在满足成像清晰的前提下,物平面沿轴线前后可移动的距离35、焦长:焦长是指物点固定不变(物距不变),在保持成像清晰的条件下,像平面沿透镜轴线可移动的距离。36、像差:由于透镜几何形状和电磁波波长变化对电磁透镜聚焦能力不一样造成的图像差异37、等厚干涉条纹:在电镜下我们会看到整个楔形晶体是亮暗相间的条纹,这些条纹很像地图上的等高线,每一条纹对应晶体的相等厚度区域所以叫等厚干涉条纹38、弯曲