(完整版)武汉大学版仪器分析知识点总结(适用考中科院的同学).doc

第一部分:AES,AAS,AFSAES原子发射光谱法是根据待测元素的激发态原子所辐射的特征谱线的波长和强度, 对元素进行定性和定量测定的分析方法。特点:灵敏度和准确度较高选择性好,分析速度快试样用量少,测定元素范围广局限性(1)样品的组成对分析结果的影响比较显著。因此,进行定量分析时,常常需要配制一套与试样组成相仿的标准样品,这就限制了该分析方法的灵敏度、准确度和分析速度等的提高。(2)发射光谱法,一般只用于元素分析, 而不能用来确定元素在样品中存在的化合物状态,更不能用来测定有机化合物的基团;对一些非金属,如惰性气体、卤素等元素几乎无法分析。(3)仪器设备比较复杂、昂贵。术语:自吸自蚀? 击穿电压:使电极间击穿而发生自持放 电的最小电压。? 自持放电:电极间的气体被击穿后, 即使没有外界的电离作用, 仍能继续保持电离,使放电持续。? 燃烧电压:自持放电发生后,为了维持放电所必需的电压。跃迁至基态的谱线称为第一共振线,到一定含量时,出现的最后一条谱线,称分析线。仪器:一般也是元素的最灵敏线。当该元素在被测物质里降低这是最后线,也是最灵敏线。用来测量该元素的谱线光源的作用:蒸发、解离、原子化、激发、 跃迁。光源的影响:检出限、精密度和准确度。光源的类型:直流电弧交流电弧电火花电感耦合等离子体(ICP)由激发态直接跃迁至基态所辐射的谱线称为 共振线。由较低级的激发态(第一激发态)直接光源蒸发温度激发温度/K放电稳定性直流电弧高4000~7000较差交流电弧中4000~7000较好火花低瞬间10000好ICP很高6000~8000最好应用范围定性分析,矿物、纯物质、难挥发元素的定量分析试样中低含量组分的定量分析金属与合金、难激发元素的定量分析溶液的定量分析ICP原理当高频发生器 接通电源后,高频电流 I通过感应线圈 产生交变磁场 (绿色)。开始时,管内为 Ar气,不导电,需要用 高压电火花触发,使气体电离后,在高频交流电场的作用下,带电粒子高速运动,碰撞,形成“雪崩”式放电, 产生等离子体气流 。在垂直于磁场方向将 产生感应电流 (涡电流,粉色),其电阻很小,电流很大 (数百安),产生高温。又将气体加热、电离,在管口 形成稳定的等离子体焰炬 。ICP-。溶液光谱分析一般列素检出限都有很低。,精密度高,相对标准偏差约 1%。。光谱背景小。准确度高,相对误差为 1%,干扰少。自吸效应小进样:溶液试样气动雾化器超声雾化器超声雾化器:不连续的信号气体试样可直接引入激发源进行分析。 有些元素可以转变成其相应的挥发性化合物而采用气体发生进样(如氢化物发生法) 。例如***、锑、铋、锗、锡、铅、硒和碲等元素。固体试样(1).试样直接插入进样电弧和火花熔融法电热蒸发进样激光熔融法分光仪棱镜和光栅检测器:目视法,摄谱法,光电法干扰:光谱干扰:在发射光谱中最重要的光谱干扰是背景干扰。带状光谱、连续光谱以及光学系统的杂散光等,都会造成光谱的背景。非光谱干扰:非光谱干扰主要来源于试样组成对谱线强度的影响,这种影响与试样在光源中的蒸发和激发过程有关,亦被称为基体效应。光源中未离解的分子所产生的带状光谱是传统光源背景的主要来源。光源温度越低,未离解的分子就越多,背景就越强。校准背景的基本原则是,谱线的表观强度 I1+b减去背景强度 Ib。常用的校准背景的方法有校准法和等效浓度法。基体效应,在实际工作中,常常向试样和标准样品中加入一些添加剂以减小基体效应,提高分析的准确度,这种添加剂有时也被用来提高分析的灵敏度。添加剂主要有光谱缓冲剂和光谱载体。? 光谱缓冲剂:为了减少试样成分对弧焰温度的影响,使弧焰温度稳定,试样中加入一种或几种辅助物质,用来抵偿试样组成变化的影响。分析方法:定性:铁光谱比较法,标准试样光谱比较法半定量:常采用摄谱法中比较黑度法定量:内标法校准曲线法标准加入法AAS:原子吸收光谱法( AAS)是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光范围的相对应原子共振辐射线的吸收强度来定量被测元素含量为基础的分析方法。特点:? 选择性好:谱线比原子发射少,谱线重叠概率小 。? 灵敏度高:适用于微量和痕量的金属与类金属元素定量分析。? 精密度(RSD%)高:一般都能控制在 5%左右。? 操作方便和快速: 无需显色反应。? 应用范围广。? 局限性:不适用于多元素混合物的定性分析;对于高熔点、形成氧化物、形成复合物或形成碳化物后难以原子化元素的分析灵敏度低。①.自然宽度Δυ N它与原子发生能级间路迂时激发态原子的有限寿命有关。一般情况下约相当于 10-4?②.多普勤(Doppler)宽度ΔυD这是由原子在空间作无规热运动所引致的。故又称热变宽。碰撞变宽:原子核蒸气压力愈大,谱线愈宽。同种粒子碰撞——赫尔兹