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混合信号测试应用简介
参考书目： 《最新集成电路测试技术》 高成 张栋 王香芬 编著
《集成电路测试技术基础》 姜岩峰 张晓波 杨兵 编著
SOC测试的发展
SOC测试的研究随着SOC技术的出现。
国内理论上对SOC测试的深入研究薄弱，与外国有一定差距。
用传统的BIST等测试方案不能满足混合信号系统的要求。
20世纪90年
代中末期
工艺提高和电路设计的理论进步
相关研究方兴未艾
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混合信号测试应用举例
对内嵌入SoC中芯核测试访问困难主要表现在：传统IC有管教供访问，但内嵌人SoC中的芯核却不易通过物理方法访问，需要借助特殊的途径。
用Credence公司的Gemini500测试系统对某一SoC芯片内嵌模数转换器进行测试：
例
待分析芯片是一款应用于有线数字电视传输中信道解调解码的集成电路芯片
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混合信号测试应用举例
数字电视信道解调芯片功能框架图
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混合信号测试应用举例
这里主要对内部集成的AD转换器进行测试，由功能图可见，AD的输出直接作为信道解调模块的输入，芯片设计时使用两线串行控制，通过对内部寄存器的操作，实现芯片控制和实时信息的获取。
故对内嵌AD转换器的输出采样必须依靠控制内部寄存器
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混合信号测试应用举例
测试方案
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芯片内集成高精度10bitAD模块，对调谐器输出的中频信号进行带通采样，，，芯片容许的中频偏移为600kHZ。
AD的输入方式为差分输入，信号幅度1V（p-p），中频信号经过AD模块后变为数字信号，输出给后续模块进行数字信号处理。
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混合信号测试应用举例
与ADC测试相关的管脚及功能描述：
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续表：
混合信号测试应用举例
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混合信号测试应用举例
分析：ADC的输入为差分输入（58、59）；与芯片二线串行总线控制相关的管脚为SCL（44）和SDA（43）；Test0~Test7为ADC的输出管脚。
当TestEn为高电平时，ADC的输出不再作为信道解调电路的输入，而是直接输出，故可以测试使用。
ADC输出的高2位在30脚和31脚复用输出，但在系统设计中，作为信道解调电路的输入时，高2位舍弃，只是低8位有效。
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混合信号测试应用举例
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