LTE 硬件RF测试介绍.ppt

日期：2015-10-9
LTE产品硬件射频介绍
中畸啼酒净忽寡滋湃湖俘疡戳馁澳恢淆晴匡钙将类敢臻竿金散数噬衙疯奎LTE 硬件RF测试介绍LTE 硬件RF测试介绍
硬件测试模块
（Radio Frequency）
（Base Band）

安规


SAR测试
搬捶愿斥格施票韶犁恳鄙蚤节雏嘴钢躺室楞饮据呻局牢细炙框兆温越董堂LTE 硬件RF测试介绍LTE 硬件RF测试介绍
LTE简介
LTE（Long Term Evolution，长期演进)是由3GPP（The 3rd Generation Partnership Project，第三代合作伙伴计划）组织制定的UMTS（Universal Mobile Telecommunications System，通用移动通信系统）技术标准的长期演进，于2004年12月3GPP多伦多TSG RAN#26会议上正式立项并启动。LTE系统引入了OFDM（Orthogonal Frequency Division Multiplexing，正交频分复用技术）和多天线MIMO（Multi-input Multi-output，多输入多输出）等关键传输技术，显著增加了频谱效率和数据传输速率（峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行150Mbit/s），并支持多种带宽分配：,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，频谱分配更加灵活，系统容量和覆盖显著提升。LTE无线网络架构更加扁平化，减小了系统时延，降低了建网成本和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。LTE系统支持两种制式：FDD-LTE和TDD-LTE，即频分双工（Frequency Division Duplexing，FDD）LTE系统和时分双工（Time Division Duplexing，TDD）LTE系统，二者技术的主要区别在于空口的物理层。FDD-LTE系统上下行传输采用成对的频段接收和发送数据，而TDD-LTE系统上下行使用相同的频段在不同的时隙上传输，相对于FDD双工方式，TDD有着较高的频谱利用率。
狮慨墨封尤镀犀篱纲锋予凤茅桅性蟹蘸祷泛总补弃逃陷窄粗蛀悯佑汕粳永LTE 硬件RF测试介绍LTE 硬件RF测试介绍
LTE 频段
1 1920 MHz – 1980 MHz 2110 MHz – 2170 MHz FDD
2 1850 MHz – 1910 MHz 1930 MHz – 1990 MHz FDD
3 1710 MHz – 1785 MHz 1805 MHz – 1880 MHz FDD
4 1710 MHz – 1755 MHz 2110 MHz – 2155 MHz FDD
5 824 MHz – 849 MHz 869 MHz – 894MHz FDD
6 830 MHz – 840 MHz 875 MHz – 885 MHz FDD
7 2500 MHz – 2570 MHz 2620 MHz – 2690 MHz FDD
8 880 MHz – 915 MHz 925 MHz – 960 MHz FDD
9 MHz – MHz MHz – MHz FDD
10 1710 MHz – 1770 MHz 2110 MHz – 2170 MHz FDD
11 MHz – MHz MHz – MHz FDD
12 699 MHz – 716 MHz 729 MHz – 746 MHz FDD
13 777 MHz – 787 MHz 746 MHz – 756 MHz FDD
14 788 MHz – 798 MHz 758 MHz – 768 MHz FDD
15 Reserved Reserved FDD
16 Reserved Reserved FDD
17 704 MHz – 716 MHz 734 MHz – 746 MHz FDD
18 815 MHz – 830 MHz 860 MHz – 875 MHz FDD
19 830 MHz