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Rietveld 结构精修原理与应用
Rietveld 结构精修原理与应用Rietveld 结构精修原理与应用主要内容1. 原理
2. 精修步骤与策略
3. 结构精修
通过阅读文学作品，我们能提高文学鉴赏水平，培养文学情趣；
主要内容
1. 原理
2. 精修步骤与策略
3. 结构精修

技术方法：
（1）单晶衍射技术
得到上千个数据，通过傅里叶转换得到电子云密度图
（直接法，patterson 法）
优点：方法简单，结果可信度高
缺点：但是经常很难得到足够大的单晶（～)来测试分析
（2）粉末衍射技术：
三维空间数据被压缩成一维，数据太少，无法得到电子云密度图，因此很难解出结构。
缺点：方法很复杂
1966年，荷兰科学家Hugo M Rietveld 采用拟合整个衍射图谱（峰位、强度、线形等）来精修晶体结构，最初用于中子粉末衍射。
某衍射峰(hkl)的衍射净强度：
Yhkl=Ghkl*Ihkl
Ghkl为峰形函数：Gauss，
Lorentz，Viogt，Pearson-Ⅶ ，
Pseudo-Voigt；
Ihkl为某hkl衍射峰的积分强度
而
Ihkl=SMhklLhkl | Fhkl |2
S:标度因子，Mhkl:衍射线hkl的多重因子，Lhkl洛伦兹因子，Fhkl 结构因子
Fhkl 计算公式：
Xj , Yj , Zj是原子j的原子坐标；hkl是产生衍射的晶面指数；fj是j原子的散射因子。
衍射图上任何一处（2Ɵ）的计算强度：
Y(2Ɵ)c为计算强度值，Y(2Ɵ)b为背景强度，
Ghkl*Ihkl为衍射峰强度。
w2Ɵ为权重因子，Y(2Ɵ)O 为观测的强度， Y(2Ɵ)c计算的强度

不断的调整峰形参数和晶体结构参数，并采用最小二乘法使计算谱拟合实测谱。
当差值（M）达到最小值，即精修结构完成。
Rietveld 方法就是利用电子计算机程序逐点比较衍射强度的计算值和实测值，用最小二乘法调节结构原子参数和峰形参数，使计算峰形和实测峰型符合。在最小二乘方法精修过程中，要达到最小化的量值称为残差 M:
判别拟合好坏的R因子
Rp 全谱因子
Rwp加权的全谱因子
Rexp期望因子
χ2拟合度因子
wi为统计权重因子；yio为点 i 处的实测（毛）强度值；yic
是点 i 处的计算强度值；N 为衍射图谱数据点的数目；P 为拟合中的可变参数的数目。

（1）高质量衍射数据的获取
中子衍射
中子与原子核相互作用，适合于确定点阵中轻元素的位置和值邻近元素的位置。
同步辐射
波长连续可调，高强度，光性单一
X射线衍射
扫描范围尽可能的宽，以获取高角度部分的数据；
步进扫描，步长一般为半高宽的1/5~1/8（）
停留时间1秒以上；
最高峰强度应至少在背景的50倍以上。