文章编号:1002-2082 (2021) 03-0534-08 416 nm纳秒脉冲激光对CCD损伤机理研究 欧 渊1,石根柱1,李点点1,吕 勇2,牛春晖2 (1. 军事科学院 系统工程研究院,北京 100081;2. 北京信息科技大学 仪器科学与光电工程学院,北京 100192) 摘 要:开展了416 nm纳秒脉冲激光对CCD的损伤实验,观察到了CCD从点损伤到线损伤,再到 面损伤的过程,并计算出了点损伤、 mJ/cm2~ mJ/cm2、 mJ/cm2~ mJ/ mJ/cm2;通过对不同损伤状态CCD的损伤点表面显 微图像的分析,以及不同损伤状态对应的CCD各电极之间电阻值的测量,得出不同损伤状态主要 由二氧化硅绝缘层材料相变引起电阻值改变所产生;COMSOL软件仿真显示CCD各层最先产生 熔融的是二氧化硅绝缘层,能量密度为420 mJ/cm2,与实验结果相接近。实验结果证明了CCD损 伤机理分析方法的正确性。 关键词:电荷耦合器件;光电对抗;损伤能量密度阈值;材料相变 中图分类号:TN249 文献标志码:A DOI: Research on damage mechanism of 416 nm nanosecond pulsed laser to CCD OU Yuan1,SHI Genzhu1,LI Diandian1,LYU Yong2,NIU Chunhui2 (1. Institute of Systems Engineering, Academy of Military Sciences, Beijing 100081, China;2. School of Instrumental Science and Photoelectric Engineering, Beijing Information Science and Technology University, Beijing 100192, China) Abstract:The damage experiment of 416 nm nanosecond pulsed laser to charge-coupled device (CCD) was carried out. The proces