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文档分类:医学/心理学

X线头影测量解析总结计划.docx


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目录
1拼音
2X线头影测量的主要应用
3头颅定位X线照像和头影图的描绘
3.1头颅定位X线照像
3.2头影图的描绘
4常用X线头影测量的标志点及平面
4.1头影测量标志点
4.2头影测量平面
5常用硬组织测量项目
5.1上下颌骨的常用测量项目。
5.2上下前牙的常用测量项目
5.3面部高度的常用测量项目
6电子计算机化的X线头影测量
6.1电子计算机化的X线头影测量特点
6.2电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程
6.3数学模型的建立
[返回]1拼音
Xxiàntóuyǐngcèli àngfènxī
X线头影测量(Cephalometrics ),主要是测量 X线头颅定位照像所得的影像,对
牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量 分析,从而了解牙颌、颅面软硬 组织的
结构,使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。几十年来X线头影测量一直成为口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。
在我国,X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。70年代末,电子计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。
[返回]2X线头影测量的主要应用
研究颅面生长发育:X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段,一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析,从横向研究颅面生长发育,同时也可用
于对个体不同时期的测量分析,而作颅面生长发育的纵向研究。由于 X线头颅照像是
严格定位的,因而系列的 X线头颅片具有可靠的 可比性。Brodie1941 年以X线头影测
量,对出生后 3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究,所得出的头影生长图
迹重叠图,至今仍广为应用。 Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论,也是
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以X线头影测量作为研究手段。林景榕在

60年代中亦以

X线头影测量对我国儿童的颅
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面生长发育作了横向研究。

林久祥、张兴中等在

90年代中纵向研究分析了我国儿童的
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颅面生长发育。通过颅面生长发育的 X线头影测量研究,明确了颅面生长发育机制,
快速生长期的年龄、性别间差异,以及颅面生长发育的预测。
牙颌、颅面畸形的诊断分析:通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分
析,可了解畸形的机制、主要性质及部位,是骨骼性畸形抑或牙 合性畸形,使对畸形
能作出正确的诊断,而这种诊断的依据,来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关
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系。而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础,又首先必须通过

X头影测量对正常合人
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颅面结构进行分析,得出正常合人各项测量的

参考标准,并应用到对畸形的诊断分析中
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去。
3 确定错合畸形的矫治设计:从 X线头影测量分析研究中得出正常 合关系可存在
于各种不同的颅 面骨骼结构关系中,而一些 牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到 稳定,
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因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后,根据错合的机制,可确定颌位及牙齿矫治的


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想位置,从而制定出正确可行的矫治方案。
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4 研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化:

X线头影测量亦常用作
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评定矫治过程中,牙颌、颅面形态结构

发生的变化,从而了解矫正器的

作用机制和矫治
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后的稳定及复发情况。如关于口外

支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结
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构的作用及变化,都是在使用

X线头影测量以后才得以明确和澄清的。
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5 外科正畸的诊断和矫治设计:通过

X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面
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畸形患者进行颅面软硬组织的分析,得出畸形的主要机制,以确定手术的部位、

方法及
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