X线头影测量解析总结计划.docx

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目录
1拼音
2X线头影测量的主要应用
3头颅定位X线照像和头影图的描绘


4常用X线头影测量的标志点及平面


5常用硬组织测量项目
。


6电子计算机化的X线头影测量



[返回]1拼音
Xxiàntóuyǐngcèli àngfènxī
X线头影测量（Cephalometrics ），主要是测量 X线头颅定位照像所得的影像，对
牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量 分析，从而了解牙颌、颅面软硬 组织的
结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。几十年来X线头影测量一直成为口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。
在我国，X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。70年代末，电子计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。
[返回]2X线头影测量的主要应用
研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用
于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。由于 X线头颅照像是
严格定位的，因而系列的 X线头颅片具有可靠的 可比性。Brodie1941 年以X线头影测
量，对出生后 3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图
迹重叠图，至今仍广为应用。 Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是
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以X线头影测量作为研究手段。林景榕在

60年代中亦以

X线头影测量对我国儿童的颅
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面生长发育作了横向研究。

林久祥、张兴中等在

90年代中纵向研究分析了我国儿童的
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颅面生长发育。通过颅面生长发育的 X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，
快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长发育的预测。
牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分
析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙 合性畸形，使对畸形
能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关
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系。而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过

X头影测量对正常合人
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颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的

参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中
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去。
3 确定错合畸形的矫治设计：从 X线头影测量分析研究中得出正常 合关系可存在
于各种不同的颅 面骨骼结构关系中，而一些 牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到 稳定，
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因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的

理
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想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。
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4 研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化：

X线头影测量亦常用作
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评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构

发生的变化，从而了解矫正器的

作用机制和矫治
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后的稳定及复发情况。如关于口外

支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结
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构的作用及变化，都是在使用

X线头影测量以后才得以明确和澄清的。
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5 外科正畸的诊断和矫治设计：通过

X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面
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畸形患者进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、

方法及
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