MSA (测量系统分析) 2002 年3月第三版冠智达顾问冠智达顾问内容概要一、基本概念二、测量系统的变差类型三、计量型量具双性的分析与研究—均值极差法四、计数测量系统的分析与研究—小样法五、测量系统分析的时机与方式方法冠智达顾问一、基本概念 1、量具 2、测量系统 3、测量数据的质量 4、测量过程冠智达顾问 1、量具任何用来获得测量结果的装置;经常用来特指用在车间的装置;包括用来测量合格/不合格的装置(如:塞规)。 2、测量系统用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件、操作人员以及环境的集合,用来获得测量结果的整个过程。冠智达顾问冠智达顾问 3、测量数据的质量测量数据的质量用稳定条件下的某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性来评价。例如,用在稳定条件下运行的测量系统得到某一特性的多次测量结果,若这些结果与基准值(或真值)都很“接近”,则称这些数据的质量“高”,否则若“远离”其基准值(或真值),则称这些数据的质量“低”。表征测量数据质量的统计特性是偏倚(偏移)和方差。所谓偏倚的特性,是指数据相对基位值的位置,而所谓方差的特性,是指数据离散程度。一组测量数据远离基准值,或其变差太大,则此测量系统的变差,可能会掩盖制造过程的变差。冠智达顾问 4、测量过程赋值过程定义为测量过程,而赋予的值定义为测量值。冠智达顾问二、测量系统的变差类型 1、偏倚( bias ) 2、稳定性( stability ) 3、线性( linearity ) 4、重复性( repeatability ) 5、再现性( reproducibility ) 冠智达顾问 1、偏倚偏倚,又称为“准确度”,是指测量结果的观测平均值与基准值的差值。基准值,也称为标准值,是充当测量值的一个一致认可的基准,一个基准值可以通过采用更高级别的测量设备(例如,计量实验室或全尺寸检验设备)进行多次测量,取其平均值来确定。冠智达顾问偏倚观测平均值基准值
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