实验基本门电路逻辑功能测试
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实验一 基本门电路逻辑功能测试
实验二 中规模组合逻辑电路应用(一)
实验三 中规模组合逻辑电路应用(二)
实验四 利用EDA软件进行组合逻辑电路的设计
实验五 触发器设计及应用
实验六 计数器的设计及应用
实验七 555定时器的应用
实验八 实验考试
实 验 内 容
数字电子技术实验
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实验一 基本门电路逻辑功能测试
一、实验目的
1、熟悉基本门电路的逻辑功能及测试方法
2、掌握用SSI设计组合逻辑电路的方法
3、用实验验证所涉及电路的逻辑功能
二、实验仪器及器材
1、数字逻辑实验台
2、集成块74LS00、74LS32、74LS86各一片
3、导线若干
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74系列门电路芯片外形如图1-1所示,管脚编号方法:管脚向下半月形缺口向左,从下排自左向右顺序编号,上排自右向左顺序编号。
图1-1 74系列芯片的管脚编号方法图
1. 74系列芯片的管脚读法
三、实验原理
实验一 基本门电路逻辑功能测试
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按集成度分:小规模(SSI):每片1—10个器件,
中规模(MSI):每片10—100个器件
大规模(LSI):每片数千个器件
超大规模(VLSI):每片>>10000器件
按电路结构和工作原理分:
组合逻辑电路:无记忆,输出与以前状态无关
时序逻辑电路:有记忆,输出与以前状态有关
实验原理
:
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3. 组合逻辑电路的设计
实验原理
组合电路:输出仅由输入决定,与电路当前状态无关;电路结构中无反馈环路(无记忆)
组合电路的描述方法主要有逻辑表达式、真值表、卡诺图和逻辑图等。
输入到输出之间没有反馈回路。电路不含记忆单元。
组合电
路特点:
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实验原理
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设计要求:在满足逻辑功能和技术要求的基础上,力求使电路简单、经济、可靠。设计中所说的“最简”是指电路所用的器件数最少,器件的种类最少,而器件之间的连线也最少。
实验原理
组合逻辑电路的设计
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逻辑变量:取值仅有逻辑“0”和逻辑“1”
逻辑代数:按一定逻辑关系进行代数运算(与、或、非、与非、异或……)
实验原理
4. 逻辑变量和逻辑代数的含义
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74LS00
实验原理
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