低温介电温谱测试系统的研发与应用.pdf

低温介电温谱测试系统的研发与应用.pdf西安科技大学硕士学位论文低温介电温谱测试系统的研发与应用姓名:华强申请学位级别:硕士专业:材料学指导教师:杜慧玲 20090514 论文题目: 专业: 硕士生: 指导教师: 低温介电温谱测试系统的研发与应用材料学华强(签名) 杜慧玲(签名) 摘要电子材料在当今飞速发展的高新技术领域发挥着越来越重要的作用,应用领域不断拓展。这就对电子材料的性能和使用范围提出了更高的要求,相应的对电子材料的测试手段和测试设备也提出了更高的要求。由于多数国外设备昂贵,而国内设备精度和稳定性不足,多为简易搭制,集成性与多功能性较差。本着开发高精度和良好稳定性的设计理念,同时为了满足Bi基焦绿石介电材料的研究需要以及其它高校科研单位和企业的在电介质陶瓷方面研究手段的不足,设计研发了电介质材料电性能测试系统——低温介电温度特性测试系统。系统在功能实现、性能指标和拓展性等方面均达到了较高水平, 实现了系统集成化,达到了精度高、安全和经济等目标。本文主要研究结果如下: (1)设计并加工完成了基于精密LCR数字电桥的低温介电温度特性测试系统。设计包括:升降温、保温系统,线性升温(1~10℃/min可选)系统;四工位样品夹持系统和与之对应的多路模拟开关系统;编写了友好的人机交互界面;℃~220℃温度范围内,不同频率下(LCR可测频率,每次可选l~10个频点)的温度特性测试,实现了数据的采集、存储的自动化以及测试过程的实时显示。(2)采用固相反应烧结法制备了新型四元系Bi基焦绿石(.。Srx)( Nbo,5)07(BZSSN)(x=0~),利用开发完成的低温介电温谱测试系统研究了系列样品在低温下的介电性能。相结构分析表明BZSSN系列样品均形成了立方焦绿石单相结构。样品的介电常数、介电损耗随着S,离子取代量的增加逐渐减小。系列样品的低温介电温谱曲线出现了频率色散现象,’.A结构的短程有序程度有关。关键词:介电温谱测试系统; 介电温度特性;焦绿石结构; 研究类型:应用研究 Subject DeVelopment and Application ofDielectric Temperature Relation Measu rement System Special锣 MateriaIs Science Name Hua Qiang Instructor Du HuiliⅡg ABSTRACT (Signatu代) (Signature) ElectroIlic materials are tabng Irlore and more important role 11i曲·technology field, 锄ld theapplication fielddeVelops continuously,wllich puts fonVard to ahigher requeSt tothe perl’omance and application scope of electrollic materials,a11d alli曲er demand to the corresponding material testmethod舢ld equipment most oVerseas equipments are expensive and thedomestic equipmems are lackofprecision锄dsklbilit),,“s№d of electricalproperties teStingsystem ismade simply t11edomeStic research mstitutions,wmch mdkes theintegration andversatili够is liIle、Ⅳithtlledesign concept ofhi曲precision and good stabili吼aS wen鹤to meet tlleresearch dem锄d ofthe Bi-baSed pyroctllore dielectric materials a』1dthe lack ofresearch me趾s on tlledielectric ceramics intheother umversities a11dente印rises,thisp印er gtudied锄d desi朗ed a dielectric materials testing low temperature dielectric characteristic realiz