AOI工作原理及常见问题解析22.docx

AOI检测原理及使用技巧
1、前言：
随着PCB加工层次越来越高，对导线的完整性要求也越来越高，由于层次 的增加，板件的材料及加工成本也越来越高，为了提升产品的品质和降低废品 损失，提高AOI的检测技术和修理技术是势在必得。
2、AO方面的设定允许 范围为设计的70%，对于较小的凹陷或间距的减少存在一定的漏失风险，可以 通过降低解析度，或增大对应线宽、间距值来减少漏失。
在资料制作时，所选用的解析度的大小会直接影响该料号的检测精度和产 量，解析度值越大，分辨率越低，侦测能力越弱。反之，解析度值越小，分辨 率越高，侦测能力越强。具体的解析度与分辨率的对应关系如下图：
解析度(resolu tion)
高分辨率（解析度值小）
低分辨率（解析度值大）
Normal
解析度越小侦测能力较高，但不是越小越好，解析度小扫描速度也越慢， 内部逻辑的时间会越长，假缺陷也会增多，影响设备的产能。通常我们所选用 的解析度采用以下原则：分辨率为最小/线宽线距的十分之一（取较小值）
在选好解析度后，在A0I机上调试时，还需设定合适的线宽/间距。
最小线宽值与最小线距值的设定：
Mini Line （最小线宽值）：影响线上缺口的侦测，数值越大对缺口的侦 测能力越强。
最小线宽值的设置（随机默认值为Nomal Line的70%），
一般如无报线宽假点，最小线宽值应尽量打大，加强对缺口的侦测。
Mini Space （最小线距值）：影响线上突铜的侦测，数值越大对突铜的侦 测能力越强。
最小线距值的设置（随机默认值为Nomal Space的70%）
一般如无报线距假点，最小线宽值应尽量打大，加强对突铜的侦测。
任何缺陷的侦测，首要前提要有该缺陷的扫描图像，以扫描图象为标准。
如下图：
标准图象 扫描图形
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LJ
J
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如扫描图象有失真情况（如线与线之间粘在一起），只能通过调整DRC
Thresholds,从而调整扫描图象。
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DRC Thresholds
Max （最大临界值）:数值越大，对缺口的侦测能力越强，降低数值可减少 报线宽假点，数值过低减弱对缺口的侦测能力，内层可设数值为45---70;外 层可设数值为35—65.
Min （最小临界值）:数值越小，，升高数值可 减少报线距假点，，内层可设数值为 15---45;外层可设数值为25—45.
通常通过增加最小线宽/间距的值来提高对线边缘缺陷的侦测能力，一般 不建议采用调节灰度值的方法。
AOI机在扫描过程中出现频繁错位
1）、错位的情况分为两种，一种是物理错位，一种是光错位
物理错位指板件在检测时相对对位时物理位置有偏移，且偏移位置大于
AOI系统自动纠正范围
光学错位指板件因反光度相对对位时灰度临界有较大差异，从而使A0I对 位时默认的临界灰度值无法清晰识别铜和基材
2）、针对物理错位，针对偏移位置较大，可以采用重新对位来解决；针对 重新对位后，还存在频繁且较小距离的错位，我们可以通过降低MIC参数敏感 度来减少错位所造成的假缺陷,MIC的敏感度由