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具有可变并行性和固件可升级性的灵活存储接口测试器的制作方法
专利名称：具有可变并行性和固件可升级性的灵活存储接口测试器的制作方法
技术领域：
实施例涉及测试，并且具体涉及固态存储设备的测试。
背景技术：
固态驱动器(SSD)是使用PC的测试器100，也称为测试片100，每个测试器包括母板、CPU、存储器和相关联的HBA卡。要注意术语CPU和处理器可互换地使用。对于SSD的生产测试和基准测试而言，成本直接地受到你可以并行测试的设备的数量的影响。每个基于PC的测试器针对固定的并行性和接口标准而被优化。在不更换HBA卡的情况下，不可能支持多个标准或更高层次的并行性。更换HBA卡增加了测试器的成本。对于基于PC的测试器的当前64-128个DUT的并行性，需要更换8_16
个HBA卡，这是费时但是可行的。在更高的并行性(例如，1024个DUT= 128个HBA卡)下，如果手动地对测试器进行重新配置，则该过程可能是不可行的并且引入很多错误。
对于基于PC的测试器，测试多个接口的灵活性受到了增加HBA卡的可用性和成本的限制。另外，HBA卡需要在物理上被换出，从而随着并行性的增加需要大量的停机时间。因为基于PC的测试器利用了现有的用于如主机总线适配器的PC应用的版，所以当新的或现有的接口标准需要连接到DUT时，就存在受限的灵活性。通常，每个需要支持的接口标准需要一个HBA。并行性固定在每个HBA卡4-8个DUT之间并且无法修改。此外，HBA卡需要在物理上从母板移除并且更换为不同的HBA卡以支持不同的接口。例如，如果基于PC的测试器被配置成连接到SATA设备，则需要SATA HBA。具体的HBA可以在母板上或在分开的HBA卡上。如果PC测试器然后需要支持光纤通道DUT，则需要购买新的光纤通道HBA0在物理上移除SATA HBA并且然后在物理上插入光纤通道HBA代替SATA HBA0 PC不意味着灵活的存储测试器，因为PC通常起到用于桌面或数据中心应用的通用计算机的作用。更小的尺寸/占用面积导致更高成本的定制板。将PC用于测试存储设备的主要原因在于1)PC是公知的通用计算机架构；2)PC通常更便宜(例如，更少的开发成本和大量PC组件的利用)；以及3)测试的存储设备最终在PC中使用。正因如此，具有能够建立十分接近最终使用场景的测试环境的另外的优点。随着发货的SSD产品的数量增加，需要更加高效地测试这些存储产品。这将需要能够在单个测试器中处理多种接口和外形参数的设备，以便a)提高测试产品组合的灵活性和效率；b)提供每平方英尺更高的密度/更高的并行性的测试站；以及c)提高测试器速度/性能以使能够实现最佳的测试次数并且避免共享资源架构的测试时间开销的缺点。如以下结合图2-8更加详细地描述，本文所述实施例采用实现定制固件和软件镜像的可配置的/可编程的ic(例如，FPGA)，所述镜像在单个芯片中实现一个或多个基于PC的测试器的功能。本文所述实施例使用可编程的1C，可编程的IC进而允许高度的灵活性以对性能、并行性和成本进行优化，并且使得能够实现到达类似SSD、HDD等的存储测试应用的有待发布的协议接口的基于软件的升级路径。与需要不同的HBA卡或潜在不同的测试器来测试不同的存储设备外形参数、物理连接器和接口标准的基于PC的测试器不同，诸如基于FPGA的测试器的基于单个可