2013年全国大学生电子设计竞赛E题：简易频率特性测试仪.doc

2013 年全国大学生电子设计竞赛 E题: 简易频率特性测试仪 2013 年全国大学生电子设计竞赛简易频率特性测试仪( E 题) 【本科组】 2013 年9月7日简易频率特性测试仪摘要: 本系统以 STM32 控制器为核心, 采用 DDS 芯片 AD9854 产生稳定的正交信号源, 通过正交调制的方式完成对被测网络的幅频和相频特性测量, 能够实现对被测网络的点频和线性扫频测量, 并采用彩色液晶进行数字化的图形显示。测试结果表明,本设计能够实现在 1M ~ 40MHz 频率范围内,对被测网络频率特性的测试,正确显示其中心频率和 3dB 带宽, 并且能够任意设置扫频步进和扫频范围,实现频率的粗扫描和精细扫描, 其幅度绝对优于 , 相位精度优于 5度。关键字: 正交调制、频率特性、 DDS I 目录 1 方案论证......................................................................................................................... .............. 1 扫频信号源........... .............................................................................................................. ...1 特性曲线显示........................................................................................................................ 12 理论分析与计算......................................................................................................................... ..1 系统原理.......................................................................................................... ............... ....... 1 DDS 参数设计........................................................................................................................ 2 低通滤波器设计............................................................................. ....................................... 2 ADC 设计......................................................................................................................... ...... 2 被测网络设计....................................................... ................................................................. 2 特性曲线显示........................................................................................................................ 33 电路与程序设计.................................... ..................................................................................... ..3 DDS 电路设计........................................................................................................................ 3 乘法器电