基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1-3部分.pdf

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ICS 31 ................... 2
标准规定的噪声参数 ............................................................ 2
其他噪声参数 .................................................................. 2
5 可靠性评价的判据及要求 ............................................................ 2
频域噪声参数与判据 ............................................................ 2
时域噪声参数与判据 ............................................................ 3
6 可靠性评价的基本流程及要求 ........................................................ 3
选取可靠性评价的元器件样品 .................................................... 3
构建可靠性评价的低频噪声参数集合 .............................................. 3
测试低频噪声参数 .............................................................. 4
计算可靠性评价判据 ............................................................ 4
基于频域噪声参数判据的可靠性评价 .............................................. 4
基于时域噪声参数判据的可靠性评价 .............................................. 4
7 可靠性噪声分级 .................................................................... 4
8 报告要求 .......................................................................... 4

ISJ/T XXXXX—XXXX
前 言
SJ/T XXXXX-XXXX《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法》分为若干部分：
第1部分：通用要求；
第2部分：光电耦合器件；
第3部分：二极管；
第4部分：电阻器；
…
本部分是《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法》的第1部分。
本文件按照GB/T —2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组提出并归口。
本文件参与起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研
究院、中国运载火箭技术研究院、济南市半导体元件实验所、深圳市量为科技有限公司。
本文件主要起草人：罗宏伟、余永涛、包军林、张伟、郭美洋、李兆成。

IISJ/T XXXXX—XXXX
引 言
低频噪声是表征电子元器件质量和可靠性的敏感参数，利用电子元器件的低频噪声特性进行质量和
可靠性检验评估的方法在许多领域得到广泛应用，并在提升产品品质方面取得显著成