现代测试技术考试大纲.docx

中国地质大学研究生院
硕士研究生入学考试复试《现代测试技术》考试大纲
试卷结构
填空题与选择题约30%
解答题（包括证明题）约70%
一、 X射线衍射分析
考试内容
X射线的物理性质（X射线的产生及8射线的过滤）
晶体结构概中国地质大学研究生院
硕士研究生入学考试复试《现代测试技术》考试大纲
试卷结构
填空题与选择题约30%
解答题（包括证明题）约70%
一、 X射线衍射分析
考试内容
X射线的物理性质（X射线的产生及8射线的过滤）
晶体结构概述（各晶系的对称要素特点）
晶体对X射线的衍射（劳埃方程式、布拉格方程式及两种方程式的统一、布拉格方程式与 衍射方向）、衍射强度和衍射方法（结构因子的表达和计算、系统消光、不同晶系的X射线衍射 特、单晶X射线衍射方法、多晶X射线衍射方法）
X射线结果分析（图谱处理、图谱检索）、X射线衍射分析应用举例（分析纳米物质粒度、 分析层状硅酸盐结构及对层状硅酸盐的有机、无机处理过程的检测）。
考试要求
掌握晶体对称的概念，熟悉各晶系晶体结构的基本特点，各晶系单位晶胞的形状特征、 理解面网间距的含义、掌握斜方、四方、立方晶系的面网间距计算公式。
理解X射线的基本性质、理解X射线产生的原理、理解。射线和8射线的产生机制、理 解8射线的过滤。
理解布拉格方程式、理解衍射方向与入射方向的对应关系、掌握粉末法X射线衍射产生 的原理、理解衍射强度的概念及决定强度的因素。
理解PDF卡片的含义、理解X射线分析数据检索的含义及用途、理解粉末法X射线衍射 的数据处理过程。
二、 电子显微分析
考试内容
电子显微镜基本原理。
电子聚焦原理。
电子聚焦缺陷。
电子显微镜成像原理。
电子束与物质之间的作用。
二次电子形貌像。
背散射成分像。
X射线成分像的特点和形成原理。
电子显微镜的主要图象。
电子显微镜的结构。
X射线谱仪及微区成分分析。
考试要求
理解电子束的波动性及电子波的特点、理解电子聚焦原理及聚焦缺陷。
理解电子束与物质作用时产生的二次电子信号、背散射电子信号及X射线信号，以及各 信号的物理意义。
掌握电子显微镜的成像原理、理解电子显微镜的主要组成。
理解二次电子像、背散射电子像及X射线成分像的含义。
理解波普仪和能谱仪的工作原理及测试结果特点。