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文档列表
文档介绍
B、散射
D、以上均是。
B、穿透力下降
C、较高的杂波或噪声显示
D、以上均是。
晶片的声束扩散角主要取决于：
A、试验的类型； B、晶片背衬材料的紧密性;
C、频率和晶片尺寸； D、脉冲长度。
振动体上绝对或相对无振可能产生的裂纹位置相似
C、 检查过程中灵敏度必须保持一致
D、 必须注意区分由形状或不正确操作所产生的干扰波
测试垂直线性时，要求使用：
A、 声程相差一倍的两个反射体回波波幅
B、 声程相同的两个反射体回波波幅
C、 一次底波幅度
D、 两次底波幅度
采用较高的探测频率有利于提高：
A、对小缺陷的检测能力 B、对缺陷的定位精度
C、相邻缺陷的分辨力 D、以上都是
接触法探伤时，如果超声探伤仪的脉冲重复频率过高，可能发生：
A、荧光屏图形亮得无法观察 B、时基线畸变
C、始脉冲消失 D、扫描过程荧光屏上会出现幻象信号
位于探头表面和被检材料表面之间，用来使超声振动从探头传输到被检材料 中去的材料叫做：
A、湿润剂 B、耦合剂 C、声发射器 D、润滑剂
如果超声仪垂直线性较差会产生：
A、缺陷尺寸误差B、缺陷形状误差 C、缺陷位置误差 D、缺陷漏检
在哪种超声波探伤法中，用衰减法确定缺陷的位置最有效？
A、切变波 B、纵波 C、表面波 D、爬波
表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值，通常代表：
A、缺陷深度 B、缺陷至探头前沿距离 C、缺陷声程 D、以上都可能
垂直探伤时发现一个缺陷显示，其振幅较低而底反射降低较大，该缺陷的取
向可能是：
A、平行于零件表面
C、与声束平行
最大扫描速度主要取决于：
A、探头频率
C、探伤仪的脉冲重复频率
试块的主要作用是：
A、 测定仪器和探头的综合性能
B、 评价缺陷大小
B、与表面平行度为主45?
D、与表面成较大的角度
B、粘滞问题
D、阴极射线管荧光屏的余辉
B、确定探伤灵敏度和测定范围
D、以上都是
如果超声仪水平线性较差会产生：
A、缺陷尺寸误差B、缺陷形状误差 C、缺陷位置误差 D、缺陷漏检
下列哪些因素影响灵敏度和信噪比？
A、探头和试块 B、仪器性能 C、耦合状态 D、以上都是
缺陷的定量评定方法有：
A、当量法 B、缺陷回波高度法 C、地面回波高度法及F/BF法
D、缺陷延伸度定量评定法 E、以上全部
粗糙的入射表面会使：
A、缺陷回波振幅降低 B、入射面回波加宽
C、 A和B都是 D、以上都不是
哪些因素会在荧光屏上产生不相关显示？
A、复杂的型面 B、边缘效应 C、表面效应 D、以上都是
液浸法超声波探伤时中，发现缺陷时，通常需要调整探头角度，其目的是：
A、 避免大量的底反射对正常波型的干扰
B、 使不垂直于超声束的缺陷反射信号最大
C、 使得到的入射表面反射的数目最多
D、 使缺陷显示高度与参考试块中平底孔显示高度相等
影响缺陷定量的因素：
A、缺陷因素 B、声场因素 C、超声耦合
D、 材质衰减 E、以上都是
斜探头探伤凸耳类件时，常用的缺陷定位方法是：
A、声程定位法 B、深度定位法 C、水平定位法 D、宽度定位法
凹面缺陷会使：
A、 通过零件的声波发散
B、 使反射声束会聚于一点，该点位置是由缺陷表面曲率决定的
C、 超声波的波形增强
D、 以上都不对
超声检验系统能分辨的已知尺寸不连续性与入射面之间的最小距离称为：
A、表面分辨力 B、入射面分辨力 C、纵向分辨力 D、始波占宽
缺陷尺寸相同时，超声波最容易发现的是：
A、球形的空洞 B、与声波入射方向相垂直的裂纹
C、与声波前进方向相平行的裂纹 D、异金属夹杂
现场对超声仪进行校准的方法是：
A、人工缺陷试块B、自然缺陷试块 C、被检零件表面 D、以上都可以
在超声探伤仪中，为了减少或消除电或材料的噪声，以突出较大信号的一种 控制方法是：
A、衰减 B、补偿 C、抑制 D、以上都是
下列哪种缺陷可以使用脉冲反射法检查？
A、蜂窝积水 B、表面裂纹 C、深度腐蚀 D、以上都可以
原位检查多层复合材料脱粘的最好方法是：
A、反射法 B、穿透法 C、水浸法 D、都是
用试块中的反射体调整探伤仪增益，使反射体回波幅度达到规定幅度的操作称作 为：
A、声程范围标定B、灵敏度标定C、垂直线形标定D、水平线形标定
按下列哪种方法是测定分贝调节器准确度？
A、将反射体波高100%满屏自下调节B、将反射体波高100%满屏自上调节
C、将反射体波高50%满屏自下调节 D、将反射体波高50%满屏自上调节
测定入射面分辨力时，要求被测的反射波前沿与相邻界面反射波相交处不大于满 刻度的：
调整探伤灵敏度的原则是：
D、以上均是。
B、穿透力下降
C、较高的杂波或噪声显示
D、以上均是。
晶片的声束扩散角主要取决于：
A、试验的类型； B、晶片背衬材料的紧密性;
C、频率和晶片尺寸； D、脉冲长度。
振动体上绝对或相对无振可能产生的裂纹位置相似
C、 检查过程中灵敏度必须保持一致
D、 必须注意区分由形状或不正确操作所产生的干扰波
测试垂直线性时，要求使用：
A、 声程相差一倍的两个反射体回波波幅
B、 声程相同的两个反射体回波波幅
C、 一次底波幅度
D、 两次底波幅度
采用较高的探测频率有利于提高：
A、对小缺陷的检测能力 B、对缺陷的定位精度
C、相邻缺陷的分辨力 D、以上都是
接触法探伤时，如果超声探伤仪的脉冲重复频率过高，可能发生：
A、荧光屏图形亮得无法观察 B、时基线畸变
C、始脉冲消失 D、扫描过程荧光屏上会出现幻象信号
位于探头表面和被检材料表面之间，用来使超声振动从探头传输到被检材料 中去的材料叫做：
A、湿润剂 B、耦合剂 C、声发射器 D、润滑剂
如果超声仪垂直线性较差会产生：
A、缺陷尺寸误差B、缺陷形状误差 C、缺陷位置误差 D、缺陷漏检
在哪种超声波探伤法中，用衰减法确定缺陷的位置最有效？
A、切变波 B、纵波 C、表面波 D、爬波
表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值，通常代表：
A、缺陷深度 B、缺陷至探头前沿距离 C、缺陷声程 D、以上都可能
垂直探伤时发现一个缺陷显示，其振幅较低而底反射降低较大，该缺陷的取
向可能是：
A、平行于零件表面
C、与声束平行
最大扫描速度主要取决于：
A、探头频率
C、探伤仪的脉冲重复频率
试块的主要作用是：
A、 测定仪器和探头的综合性能
B、 评价缺陷大小
B、与表面平行度为主45?
D、与表面成较大的角度
B、粘滞问题
D、阴极射线管荧光屏的余辉
B、确定探伤灵敏度和测定范围
D、以上都是
如果超声仪水平线性较差会产生：
A、缺陷尺寸误差B、缺陷形状误差 C、缺陷位置误差 D、缺陷漏检
下列哪些因素影响灵敏度和信噪比？
A、探头和试块 B、仪器性能 C、耦合状态 D、以上都是
缺陷的定量评定方法有：
A、当量法 B、缺陷回波高度法 C、地面回波高度法及F/BF法
D、缺陷延伸度定量评定法 E、以上全部
粗糙的入射表面会使：
A、缺陷回波振幅降低 B、入射面回波加宽
C、 A和B都是 D、以上都不是
哪些因素会在荧光屏上产生不相关显示？
A、复杂的型面 B、边缘效应 C、表面效应 D、以上都是
液浸法超声波探伤时中，发现缺陷时，通常需要调整探头角度，其目的是：
A、 避免大量的底反射对正常波型的干扰
B、 使不垂直于超声束的缺陷反射信号最大
C、 使得到的入射表面反射的数目最多
D、 使缺陷显示高度与参考试块中平底孔显示高度相等
影响缺陷定量的因素：
A、缺陷因素 B、声场因素 C、超声耦合
D、 材质衰减 E、以上都是
斜探头探伤凸耳类件时，常用的缺陷定位方法是：
A、声程定位法 B、深度定位法 C、水平定位法 D、宽度定位法
凹面缺陷会使：
A、 通过零件的声波发散
B、 使反射声束会聚于一点，该点位置是由缺陷表面曲率决定的
C、 超声波的波形增强
D、 以上都不对
超声检验系统能分辨的已知尺寸不连续性与入射面之间的最小距离称为：
A、表面分辨力 B、入射面分辨力 C、纵向分辨力 D、始波占宽
缺陷尺寸相同时，超声波最容易发现的是：
A、球形的空洞 B、与声波入射方向相垂直的裂纹
C、与声波前进方向相平行的裂纹 D、异金属夹杂
现场对超声仪进行校准的方法是：
A、人工缺陷试块B、自然缺陷试块 C、被检零件表面 D、以上都可以
在超声探伤仪中，为了减少或消除电或材料的噪声，以突出较大信号的一种 控制方法是：
A、衰减 B、补偿 C、抑制 D、以上都是
下列哪种缺陷可以使用脉冲反射法检查？
A、蜂窝积水 B、表面裂纹 C、深度腐蚀 D、以上都可以
原位检查多层复合材料脱粘的最好方法是：
A、反射法 B、穿透法 C、水浸法 D、都是
用试块中的反射体调整探伤仪增益，使反射体回波幅度达到规定幅度的操作称作 为：
A、声程范围标定B、灵敏度标定C、垂直线形标定D、水平线形标定
按下列哪种方法是测定分贝调节器准确度？
A、将反射体波高100%满屏自下调节B、将反射体波高100%满屏自上调节
C、将反射体波高50%满屏自下调节 D、将反射体波高50%满屏自上调节
测定入射面分辨力时，要求被测的反射波前沿与相邻界面反射波相交处不大于满 刻度的：
调整探伤灵敏度的原则是：
民航NDT基础练习 来自淘豆网www.taodocs.com转载请标明出处.