楔形平板产生的等厚干涉.ppt

三、楔形平板产生的等厚干涉
两个不平行平面的分振幅干涉,称为楔形平板的干涉。
(一)定域面及定域深度
楔形平板干涉条纹定域面的位置,也由
的条件确定,由于平板的两个表面之间有一个夹角,定域面与楔板相对于扩展光源的位置有关。见书P226
等厚干涉:平行光入射非均匀薄膜,i相同,对于不同的薄膜厚度e产生不同的干涉条纹, 这种干涉叫等厚干涉。
实际中,扩展光源并非无穷大,
干涉条纹不只局限在定域面,在定域面附近也可以看到干涉条纹,这一定的区域深度为定域深度。
定域深度以外的区域看不到干涉条纹。
(二)楔板产生的等厚条纹
从光源S中心发出经楔板上下表面反射的两支光交于定域面上某点P,这两支相干光在P点产生的光程差为
精确计算较困难,近似用平行平板的光程差公式来代替
若照明平行光垂直入射楔板, 若楔板折射率处处均匀,干涉条纹与等厚度的轨迹相对应,这种条纹称为等厚条纹。
亮纹
暗纹
从以上亮纹或暗纹公式易导出,从一个条纹过渡到另一个条纹,平板的厚度变化为
对应光程差变化为,楔板的楔角
为条纹的间距
α
e
h
ek
ek+1
明纹
暗纹
条纹间距
又
干涉条纹分布的特点:
e
ek
ek+1
明纹
暗纹
劈棱
(适于平行光垂直入射)
(1). 当有半波损失时,在劈棱处为暗纹, 否则为一亮纹;
(2). 干涉条纹是平行于棱边的直条纹
(3). 相邻明(暗)纹间距
(4). 楔角愈小,干涉条纹分布就愈稀疏
测细小直径、厚度、微小变化
Δh
待测块规
λ
标准块规
平晶
测表面不平度
等厚条纹
待测工件
平晶
检验透镜球表面质量
标准验规
待测透镜
暗纹

(1)检测待测平面的平整度
由于同一条纹下的空气薄膜厚度相同,当待测平面上出现沟槽时条纹向左弯曲。
待测平面
光学平板玻璃