X荧光培训考试复习题.doc

X荧光培训考试复****题一、填空1、根据探测方法的不同,可将X荧光光谱仪分为(和(两大类。波长色散光谱仪(WDX,能量色散光谱仪(EDX。2、布拉格衍射公式为(,式中n为常数,称为(;λ为(。nλ=2d*sinθ,衍射级数,谱线波长。3、闪烁探测器适用于测定(。中、短波长的X射线。4、X射线为波长在(之间的电磁波。~100埃。5、WDX光谱仪主要组成部分为(、((入射准直器或入射狭缝、晶体、出射准直器或出射狭缝和(。光管,色散装置,探测器。6、大部分X荧光光谱仪器仪上装有充气正比探测器,所用气体为P10气,即氩气和甲烷混合气体,其中甲烷用作(。猝灭性气体。7、充气正比探测器通常适用于(。中、长波长的X射线。8、原子受激发产生X射线光子的概率叫(。荧光产额。二、判断题。1、在X荧光分析中我们用K线测量中到高原子序数的元素。(╳2、在波长色散X荧光光谱中,色散装置的核心部件是晶体。(√3、X荧光仪器间的温度一般要求控制在22±4℃。(╳4、布拉格公式nλ=2d*sinθ中,d为晶面距,θ为布拉格衍射角。(√5、因X荧光分析中背景很大部分可能来源于入射X射线的散射。然而元素越重散射越少,所以重元素光谱上的背景几乎无大的影响;相反在测量低浓度的轻元素时背景就成为限制因素。(√6、X荧光仪器间的湿度一般应控制在40%-70%。(√7、充气正比探测器所用P10气体中氩气的所占的比例为90%,甲烷所占的比例为10%。(√8、X荧光分析中因为光管上加有高压,故此冷却光管的水应为蒸馏水。(╳9、X躬线短波以τ射线为界,长波边与真空紫外线区域相邻。(√10、,这是X射线法用于长波时的灵敏度固有限制。(√三、简答题1、X荧光定性分析的基础是什么?答:化学元素在受到适当的激发时发射出特征辐射。2、X荧光进行定量分析的基础是什么?答:受激引发的特征辐射强度与样品中元素的含量成比例关系。3、X荧光分析中所用探测器的作用是什么?答:将X射线转换成一种能量形式,这种能量可在一定的时间内被测量和积分。4、请列出几种探测器(两种以上?答:充气正比探测器、闪烁探测器、半导体探测器。5、X荧光分析中,脉冲高度选择器的作用是什么?答:脉冲高度选择器的作用是以能量分离的方式,将适当窄的波长范围与整个波谱分开,以利于检测。6、点检X荧光真空泵的运转情况包括哪些内容?答:记录真空泵油位和补加真空泵油;监听真空泵及其后的电磁阀运行时是否有异响、异味发出;真空泵油是否无色清亮。7、X荧光分析中对所使用的分光晶体有哪些要求:答:X荧光分析中,色散装置中所用的分析晶体应有好的反射率、色散率,温度效应小,较好的物理性质,小的晶体荧光、异常反射。8、根据色散系统原理结构,可以将波长色散光谱仪分为哪几类?答:根据色散系统的原理结构,可以将波长色散光谱仪分为顺序扫描式光谱仪和固定式多道光谱仪两大类。9、波长色散X荧光光谱仪的组成部分是什么,各部分的作用是什么?答:波长色散X荧光光谱仪的主要组成部分为:X光管、色散装置和探测器。各部分的作用是:X光管作为激发源;色散装置分离出单一波长以供检测;探测器用于检出信号。10、什么是晶体?答:晶体可以定义为在三维空间以周期形式排列的原子所组成的固体。四、问答题1、请写出X光管产生X射线的机理。答:用电流加热灯丝,在灯丝周围形成高电子密度区,电子在加于阳极和灯丝之间的大电位差作用下,沿阳极聚焦管加速,高速电子打在阳极上,产生X射线辐射。2、色散率,即某一晶体晶面最有效分开谱线的能力,色散率取决于哪些因素?答:晶体的晶面距;布拉格角;衍射级。关系式如下:3、充气探测器探测X射线的原理是什么?答:X射线光子通过窗口进入探测器,电离惰性气体,电离产生的安始电离子对数目与入射线的能量成正比。在加于阴极与阳极间的高压作用下,初始电子被加速,与其它的惰性气体原子碰撞,激出电子而本身不被吸收,如此形成一个倍增过程。最终电子撞击在金属丝上形成一个电压脉冲信号,导入其后的读出装置读出。4、闪烁探测器探测X射线的原理是什么?答:闪烁探测器是先由磷光体(是一种吸收某一波长辐射后,~,再由光电倍增管把波长能量变为电压并放大,然后导入其后的读出装置读出。5、在开启和加载X光管电流电压的时候应注意什么?答:开启光管时,应逐渐给光管加上电压电流,不可加载得过快,尤其是在长时间关闭光管后,要先老化一下光管,于1小时内逐渐加载到常规工作功率,而后进入待机状态或是进行分析。五、画图题1、用流程图描述X荧光光谱仪开机步骤2、请绘出SUPERQ测定未知样品的流程。3、请绘出X荧光光谱仪的关机步骤。六、综合题1、下图是X荧光光谱仪的基本结构图,请写出各部件的名称。各部件的名称为: