下载此文档

电子产品设备环境试验方法.docx

文档分类：建筑/环境 | 页数：约2页举报非法文档有奖

1/2

下载提示

1.该资料是网友上传的，本站提供全文预览，预览什么样，下载就什么样。
2.下载该文档所得收入归上传者、原创者。
3.下载的文档，不会出现我们的网址水印。

同意并开始全文预览

(约 1-6 秒)

1/2 下载此文档

文档列表 文档介绍

电子产品设备环境试验方法高温试验参照标准: GB/-2001 GB/-2001 本标准叙述的高温试验适用于散热和非散热两类试验样品。试验目的: 电子产品在高温下使用或储存的适应性试验设备: CLM GD-500 试验条件: 一. . 高温贮存试验 1. 试验温度为 70℃或者按有关标准或技术文件规定。 2. 试验时间为 48h 或者按有关标准或技术文件规定。 1. 试验温度为试验样品的最高工作环境温度。 2. 试验时间为试验样品在非工作状态下达到温度稳定, 然后启动试验样品进行工作, 直至试验样品的温度达到稳定或者按有关标准或技术文件规定进行工作的时间。本高温试验的目的仅限于确定件、设备或其他产品在高温环境条件下使用或贮存的适应性。本高温试验不能用来评价试验样品的耐温度变化性和在温度变化期试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算。在特殊情况下, 如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定。则试验持续时间从试验箱(室) 达到规定试验温度时开始计算。相关规范应规定: a) 试验箱(室) 内温度变化速率; b) 试验样品放人试验箱(室) 的时间; c) 试验样品在试验条件下暴露开始的时间; d) 试验样品通电或加负载的时间。对于这些情况,相关规范的制定者可根据 GB/T242 3 .1- 2001 GB / -2001 选定以上 4 个参数( 包含以上这些情况的修正件在考虑之中)。

电子产品设备环境试验方法来自淘豆网www.taodocs.com转载请标明出处.

电子产品设备环境试验方法.docx

电子产品环境试验

电工电子产品环境试验

电子产品环境试验

（推荐）电子产品环境试验

电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法

电子产品环境试验

电子产品环境试验简介

电子产品环境试验

电子产品设备环境试验方法

(电子产品)环境试验简介