低阻四线测试原理.docx

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低阻四线测试原理
1、普通二线测试原理
　　通常的开短路测试方法即为普通二线测试，如下图所示，二线测试是目前普遍应用的一种方案。
　　二线测试只有一个回路，所测得的阻抗为R1+R2＋Rpcb，即所测得的阻抗为馈线电阻和待测线路阻值之和，故无法精确测定被测PCB之低阻值。但因为开路测试的条件一般为20Ω，故馈线电阻影响不大，可以忽略不计。二线测试的精度虽然不高，但是用来判断线路的开短路已经能满足绝大部分的印制线路板的需要。但仅适用于完全断线、完全孔断之测试，对于低阻值测试则无能为力。
　　2、低阻四线测试原理
　　开尔文连接方式（或称四线测试方式）如下图所示，开尔文连接有两个要求：对于每个测试点都有一条激励线和一条检测线，二者严格分开，各自构成独立回路；同时要求检测线必须接到一个有极高输入阻抗的测试回路上，使流过检测线的电流极小，近似为零。激励线即是电流供给回路，检测线即是电压测定回路，电流、电压两回路各自独立。电流供给回路两端子与电压测定回路两端子共计四端子，故称四线测试。
　　V≒I1xRpcb（因I2(小电流)再乘上小电阻得到更小的压降），因电压表的内部阻抗非常高（MΩ级），远远大于电压测定回路的馈线电阻R3和R4（Ω级），使得几乎全部的电流流经过Rpcb，
流经电压表的电流I2几乎为零，故所量到的电压也几乎是Rpcb本身的压降，馈线电阻完全可以忽略，使所测得的Rpcb几乎近似于Rpcb本身，由此可精确测定被测PCB之微小阻值，其四线测试的测试精度可达到mΩ级。