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实验一集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
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实验一　集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
　　一、实验目的
　　1、掌握TTL、CMOS集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法
　　2、掌握TTL、CMOS器件的使用规则
3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法
　　二、实验原理
TTL集成与非门：双四输入与非门74LS20


图2－1 74LS20逻辑符号及引脚排列
CMOS集成与非门四二输入与非门CD4011
1、与非门的逻辑功能：有“0"得“1"，全“1”得“0"。
其逻辑表达式为
2、与非门的主要参数
　 (1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时,电源提供器件的电流。ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
（a） (b) (c） (d）
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图2－2与非门静态参数测试电路图
　 (2），其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。IiH是指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端空载时,流入被测输入端的电流值。
　 (3)扇出系数NO
　　扇出系数NO是指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数。
(4）电压传输特性
门的输出电压vO随输入电压vi
而变化的曲线vo＝f(vi) 。
图2－3 传输特性测试电路
(5）平均传输延迟时间tpd
三、实验设备与器件
1、+5V直流电源 2、逻辑电平开关
3、逻辑电平显示器 4、直流数字电压表
5、直流毫安表 6、直流微安表
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