LED芯片寿命试验.doc

LED 芯片寿命试验本文由 himintao 贡献 doc 文档可能在 WAP 端浏览体验不佳。建议您优先选择 TXT ,或下载源文件到本机查看。 LED 芯片寿命试验作者: 佚名信息来源: 中国 LED 网阅: 340 发布时间: 2009 年 12月 28日编录: admin 摘要:介绍了 LED 芯片寿命试验过程,提出了寿命试验条件, 完善的试验方案,消除可能影响寿命试验结果准确性的因素,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。采用科学的试验线路和连接方式,使寿命试验台不但操作简便、安全,而且试验容量大。 1 、引言作为电子元器件,发光二极管( Light Emitting Diode-LED ) 已出现 40 多年, 但长久以来, 受到发光效率和亮度的限制, 仅为指示灯所采用, 直到上世纪末突破了技术瓶颈, 生产出高亮度高效率的 LED 和兰光 LED , 使其应用范围扩展到信号灯、城市夜景工程、全彩屏等, 提供了作为照明光源的可能性。随着 L ED应用范围的加大,提高 LED 可靠性具有更加重要的意义。 LED 具有高可靠性和长寿命的优点,在实际生产研发过程中,需要通过寿命试验对 LED 芯片的可靠性水平进行评价,并通过质量反馈来提高 LED 芯片的可靠性水平, 以保证 LED 芯片质量, 为此我司在实现全色系 LED 产业化的同时, 开发了 LED 芯片寿命试验的条件、方法、手段和装置等,以提高寿命试验的科学性和结果的准确性。 2 、寿命试验条件的确定电子产品在规定的工作及环境条件下, 进行的工作试验称为寿命试验, 又称耐久性试验。随着 LED 生产技术水平的提高, 产品的寿命和可靠性大为改观, LED 的理论寿命为 10 万小时,如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价,而我们试验的主要目的是, 通过寿命试验掌握 LED 芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。我们根据 LED 器件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了 ×~ 以下芯片的寿命试验条件:●样品随机抽取, 数量为8~ 10 粒芯片, 制成ф5 单灯;●工作电流为 30mA ;●环境条件为室温( 25 ℃± 5℃);●试验周期为 96 小时、 1000 小时和 5000 小时三种; 工作电流为 30mA 是额定值的 倍,是加大电应力的寿命试验,其结果虽然不能代表真实的寿命情况, 但是有很大的参考价值; 寿命试验以外延片生产批为母样, 随机抽取其中一片外延片中的 8~10 粒芯片, 封装成ф5 单灯器件,进行为 96 小时寿命试验, 其结果代表本生产批的所有外延片。一般认为, 试验周期为 1000 小时或以上的称为长期寿命试验。生产工艺稳定时, 1000 小时的寿命试验频次较低, 5000 小时的寿命试验频次可更低。 3 、过程与注意事项对于 LED 芯片寿命试验样本,可以采用芯片, 一般称为裸晶, 也可以采用经过封装后的器件。采用裸晶形式, 外界应力较小, 容易散热, 因此光衰小、寿命长, 与实际应用情况差距较大,虽然可通过加大电流来调整,但不如直接采用单灯器件形式直观。采用单灯器件形式进行寿命试验,造成器件的光衰老化的因素复杂,可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的