目 标
通过本章的学****将能够:
1. 画出典型的亚微米 CMOS IC 制造流程图;
2. 描述 CMOS 制造工艺14个步骤的主要目的;
4. 探讨每一步 CMOS 制造流程的关键工艺。
CMOS工艺流程中的主要制造步骤断减小。这就增加源漏间电荷穿通的可能性,并引起不希望的沟道漏电流。LDD工艺就是为了削减这些沟道漏电流的发生。 n- LDD Implant1)第五层研磨2) n-LDD注入(低能量,浅结)
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p- LDD Implant1)第六层掩膜2)P- 轻掺杂漏注入(低能量,浅结)
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五、侧墙的形成 侧墙用来环绕多晶硅栅,防止更大剂量的源漏(S/D)注入过于接近沟道以致可能发生的源漏穿通。1)淀积二氧化硅2)二氧化硅反刻
Figure
六、源/漏注入工艺n+ Source/Drain Implant1)第七层掩膜2)n+源/漏注入
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p+ Source/Drain Implant1)第八层掩膜2)P+源漏注入(中等能量)3)退火
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七、接触(孔)的形成钛金属接触的主要步骤1)钛的淀积2)退火3)刻蚀金属钛
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八、局部互连工艺LI 氧化硅介质的形成1)氮化硅化学气相淀积2)掺杂氧化物的化学气相淀积3)氧化层抛光(CMP)4)第九层掩膜,局部互连刻蚀
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LI 金属的形成1) 金属钛淀积(PVD工艺)2)氮化钛淀积3)钨淀积4)磨抛钨(化学机械工艺平坦化)
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作为嵌入LI金属的介质的LI氧化硅
九、通孔1和钨塞1的形成通孔1 形成1)第一层层间介质氧化物淀积2)氧化物磨抛3)第十层掩膜,第一层层间介质刻蚀
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钨塞1 的形成1)金属淀积钛阻挡层(PVD)2)淀积氮化钛(CVD)3)淀积钨(CVD)4)磨抛钨
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多晶硅、钨 LI 和钨塞的SEM显微照片
Polysilicon
Tungsten LI
Tungsten plug
Mag. 17,000 X
Photo
十、第一层金属互连的形成1)金属钛阻挡层淀积(PVD)2)淀积铝铜合金(PVD)3)淀积氮化钛(PVD)4)第十一层掩膜,金属刻蚀
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第一套钨通孔上第一层金属的SEM显微照片
Micrograph courtesy of Integrated Circuit Engineering
TiN metal cap
Mag. 17,000 X
Tungsten plug
Metal 1, Al
Photo
十一、通孔2和钨塞2的形成制作通孔2的主要步骤1)ILD-2间隙填充2)ILD-2氧化物淀积3)ILD-2氧化物平坦化4)第十二层掩膜,ILD-2刻蚀
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制作其次层钨塞的主要步骤1)金属淀积钛阻挡层(PVD)2)淀积氮化钛(CVD)3)淀积钨(CVD)4)磨抛钨
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第一套钨通孔上第一层金属的SEM显微照片
Micrograph courtesy of Integrated Circuit Engineering
TiN metal cap
Mag. 17,000 X
Tungsten plug
Metal 1, Al
十二、其次层金属互连的形成1)淀积、刻蚀金属22)填充第三层层间介质间隙3)淀积、平坦化ILD-3氧化物4)刻蚀通孔3,淀积钛/氮化钛、钨,平坦化
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十三、制作第三层金属直到制作压点和合金
重复工艺制作第三层和第四层金属后,完成第四层金属的刻蚀,紧接着利用薄膜工艺淀积第五层层间介质氧化物(ILD-5)(见下图)。µm尺寸要大很多,所以这一层介质不须要化学机械抛光。
工艺的最终一步包括再次生长二氧化硅层(第六层层间介质)以及随后生长顶层氮化硅。这一层氮化硅称为钝化层。其目的是爱护产品免受潮气、划伤以及沾污的影响。
十四、参数测试
十四、参数测试
硅片要进行两次测试以确定产品的功能牢靠性:第一次测试在首层金属刻蚀完成后进行,其次次是在完成芯片制造的最终一步工艺后进行。
整个 mm的CMOS 剖面
Figure
Passivation layer
Bonding pad metal
第十七章-COMS-IC工艺流程 来自淘豆网www.taodocs.com转载请标明出处.