温度采集外文翻译（适用于毕业论文外文翻译+中英文对照）.doc

2012 届本科毕业设计(论文)外文
文献翻译
学院: 物理与电子工程学院
专业: 电子科学与技术
(用外文写)
外文出处:Changsha University of Science
and Technology
附件: ;。
附件1:外文资料翻译译文
一种基于DS18B20的温度探测系统
摘要
所有的DS18B20传感器,用于多点温度测试,IO总线与MCU连接,温度数据的轮流收集。如果系统有大量的传感器,MCU的时间用在处理温度数据明显延长,因此周期替代测试变得更长。在本文中,一种新的方法,DS18B20的合理组合和一些在软件上采取的措施,替代试验进展速度明显。
关键词:DS18B20的集团,温度测试,轮流测试所花费的时间。
引言
由于结构简单,安装方便,低损失和广泛的用途的温度测试,DS18B20温度测试传感器应用领域,需要多点温度测试,如化学工业,粮食,环境监督管理等。因为通过一个DS18B20的多点温度测试系统总线,所有DS18B20是挂在一条总线上,然后每个温度测试点的值转换轮流读。作为转换后读值必须阅读8次引脚的状态,移动时间,位置和存储数据,所以时间多花费在阅读每一个点的数据系统时间。如果温度测试系统是大型系统由它造成的损失是相当多的,然后交替测试系统的运行速度明显降低,从而影响多点温度测试系统的效率。在本文中,DS18B20的一些I / O总线上都挂着分组DS18B20的均匀,温度转换获取数据读取DS18B20的状态, 系统损耗减少和替代测试速度增加显然,这将不会影响精度和转换的可靠性。一套点对多点温度,在此实现人工环境实验室测试,这增加了测试效率。
作者对DS18B20的认识
DS18B20是单总线数字温度传感器来自美国达拉斯公司。 DS18B20是由64数字光盘刻激光,温度敏感性组成部分,非易失性温度报警触发器(设备TH和TL)。DS18B20的通信微处理器单总线端口和测试范围DS18B20是从-55摄氏度到+125摄氏度,。温度可在720ms的数字改为每个DS18B20具有唯一的64数字序号。图1揭示的具体内容:两个8的数字储量(0号和1号),用于存储在DS18B20的温度值。0号存储存储器温度值,补充和一号存储器温度值的符号。用户可以定义非挥发的温度报警台和区分报警搜索命令,并寻求组件温度预定限额以外的报警状态。有两个电源的替代方法:信号总线的高级别借采用电源或
+5V外部电源直接采用。
图1 DS18B20的64位ROM
应用程序的分组试验方法
本文阐述了DS18B20与89C52接口的分组方法。假设量P1口的总线是和温度测试系统需要100 DS18B20的传感器,可以平均分配4 I / O线。如果传感器的数量不能分割由总线数目甚至,传感器的数量差距总线上是不超过一个,它可以处理,而阅读数字。外部供电电源。拥有在每个DS18B20的同时性的转换,激烈当前是必要的,不能使用和信号总线电源,否则系统无法工作秩序。“电路原理图2所示(DS18B20的信号同组的公共汽车上都挂着P1口的一些公共汽车)。当读写DS18B20的,严格的时间表被保留。首先回归脉冲被发送到所有DS18B20的。后回归,跳过ROM命令发送到每个电路同时的I / O端口,转换顺序发送的,那么所有的传感器开始转变。转换后,匹配ROM命令同时发送到每个电路,64位序列号发送。 DS18B20是每个选择组,便签数据读取。最后的数据是转化。串行读取数据转化为实际温度值。一名候补测试完成后DS18B20温度数据读取完全由周期性的读数为25倍。
图2 DS18B20的分组示意图
现在,在单总线和分组分析法测试系统耗时分别说明。回归时间序列和时间序列的写作和阅读的一个位微处理器在数字4-6中显示。DS18B20的回归周期为495us,1020us;一位写作时间是60us-120us;一位读期间以上60us;写入或读取下位跨度是微秒。由于A / (9精密度),如果它是由最短的方法计算,替代测试总耗时分别计算如下:
单总线:
495us+2*(8*60+7)us++495us+100*(64*60+63+8*60+7+9*60+8)us=
分组模式:
495us+2*(8*60+7)us++20(64*60+63+8*60+7+9*60+8)us=
作为数制转换和存储时间,在整个时期,未知的晶体振荡器的频率,数制转换和存储时间的一小部分是不计算在内。因此,备用的测试分组模式消耗的时间明显比单总线模式短得多。
设计示例
沥青运输车辆是主要材料领域和道路之间