ITO导电玻璃检验标准.doc

本标准准适用于正星光电科技有限公司生产的ITO产品。

JIS B0601—1994表面微观波纹度测量过程和方法的标准。
GB2828—2003计数抽样检验程序[第一部分按照接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划]。

长度及宽度的允许偏差、厚度允许偏差表
序号
检验项目
标准范围
测量方法
1
长度/宽度
±
数显游标卡尺
2
厚度
±
±
0. 55mm±
±
千分尺
3
垂直度
≤%
宽座角尺和塞尺

玻璃基片的垂直度的公差等级a/L≤%(见图1,a为公差带,L为被测玻璃基片的相应边长)。
图1 玻璃基片的垂直度
弯曲度(h/L)
图2 玻璃基片的弯曲度,不允许S形弯曲
(玻璃的浮法锡面)
微观表面波纹度的数值Rt的最大值应符合表2要求
序号
厚度
玻璃类型
弯曲度
微观波纹度
1

非强化
≤%
≤
强化
≤%
2

非强化
≤%
≤
强化
≤%
3

非强化
≤%
≤
强化
≤%
4

非强化
≤%
≤
强化
≤%
b
c
d*d
浮法方向
切角磨边示意图
a
*45°
C型边
:
R型边
编号
项目
标准要求
检验方法
1
C型倒边
≤W≤
10倍放大镜
2
R型倒边
宽度:≤W≤ 曲半径: R≤50 mm
10倍放大镜
3
标识角
b=±
c=±
10倍放大镜
4
相同角
A=±
10倍放大镜
5
崩边
长≤1mm,宽≤
深度≤1/2基片厚度
10倍放大镜
6
破裂
不允许
目测
7
边、角未磨
不允许
目测

包括内部气泡、夹杂物、表面凹坑、异色点等。
点状缺陷的直径d定义为:d=(L+W)/2,见图5。划伤缺陷的定义为:L 3mm,W -:
图5点状缺陷的尺寸图6划伤图形的尺寸

No
缺陷分类
A品标准范围
B品
测量方法
1
内部气泡、杂质点、针眼、污点、锡斑、亮点、表面凹凸点、颗粒
d=(W+L)/2
d≤
<d≤
d>
D≤,10个/片,允许; D>,不允许.
裸眼≥
1000LUX(30W日光灯)
光照条件
距离玻璃 30cm
(注:客户有特别要求的,以客户要求为准)
2
玻筋
日光灯下不可见
3
划伤
宽度W≤