涡
流
无
损
检
测
E
T
答辩人: 王炎 13010123
王信 13010110
赵言吾 13010109
1
工程背景
2
实验环节
3
实验结果
4
改进方案
CONTENT
ONE
工程背景
在先进的集成电路中,薄金属、半导体和聚合物薄膜是必不可少的元素。评估这些薄膜状态是在这些领域的工作一个重要的部分。
一、工程背景
电磁感应
涡流
楞次定律
反磁场
集肤效应
涡流检测 Eddy Current Testing
ET
TWO
实验环节
电路图
原理
检测成图原理
内置线圈,电阻,导线
四线两端,输入输出
总长10 cm,φ8 cm
硬件准备
探头头部
铁氧体磨尖
电阻
线圈
内部结构
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