扫描电镜-刘东.ppt

刘东
扫描电子显微镜(SEM)Scanning Electron Microscope
电子束与固体样品作用时产生的信号
扫描电子显微镜的构造和工作原理
扫描电子显微镜的主要性能
表面形貌衬度原理及其应用
原子序数衬度原理及其应用
电子探针X射线显微分析
扫描电子显微镜(SEM)
Scanning Electron Microscope
、结构与组成,掌握表征仪器性能的主要技术指标。
。
、背散射电子像的像衬原理、特点、分析方法及应用;了解其它电子像的像衬原理、特点、分析方法及应用。
,掌握它们的应用特点。
、线分析和面分析的应用
本章要求
高分子物理近代研究方法,张俐娜等编,武汉大学出版社,2003。
扫描电子显微镜分析技术,杜学礼等编,化学工业出版社,1986。
电子显微镜的原理和使用,张宜等编,北京大学出版社,1983。
“Electron microscopy of thin crystals”, M. A. Hirsch,Krieger Publishing Co. Huntington, 1965.
“Electron microscopy and analysis”, Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland. Taylor & Francis, 2001.
参考书
SEM的特点和工作原理1965年第一台商用SEM问世;SEM能弥补透射电镜样品制备要求很高的缺点; 景深大; 放大倍数连续调节范围大; 分辨本领比较高。
为什么要发明扫描电镜?
透射电镜的成像——电子束穿过样品后获得样品衬度的信号(电子束强度),利用电磁透镜(三级)放大成像。
引言
扫描电镜成像——利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。
碳纤维
水泥
水泥熟料断面
普通水泥浆体
聚合物改性水泥浆体
高分子材料制成的纳米筛