001-过程能力CPK分析表.xls

过程稳定性评估:X-R控制图评估工序:产品名称:产品规格:产品图号:操作人员:产品批号:生产机台:评估日期:测量仪器:仪器编号:测量单位:测量人员:测量特性:标准值:标准上限:标准下限:样本子组08:0008:3009:0009:3010:0010:3011:0011:3012:0012:3013:0013:3014:0014:3015:0015:3016:0016:3017:0017:3018:0018:3019:0019:#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!=#DIV/0!样本A2d2D3D4控制上限:UCL=X+A2×R=#DIV/0!==R/d2=:LCL=X-A2×R=#DIV/0!=(USL-均值)/(3σ)=#DIV/0!:UCL=D4*R==(均值-LSL)/(3σ)=#DIV/0!:LCL=D3*R=:CPK=min(Cpu,Cpl)=#DIV/0!#DIV/0!子组均值#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!#DIV/0!极差00000000