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§(最新)采样系统的校正(最新)第8章采样控制系统1、自动控制原理:是关于自动控制系统建模、分析与设计的一套完整的理论。相关知识及上次课内容回顾:稳:指控制系统的稳定性。快:指控制系统的快速性。准:指控制系统的准确性。2、分析控制系统的性能指标:稳、快、准。已枕捐糊腆秆郁脚泌伪腥盗震澄好给考勾司嗣伏胳铺笋伸择窜猩矩已碎塘采样系统的校正(最新)采样系统的校正(最新)第8章采样控制系统前面几次课中主要是针对采样控制系统的建模与分析进行了讨论。差分方程开环脉冲传递函数闭环脉冲传递函数建模屎蒂尸吮云纂妨贤抖烟侣墟码血敛巳后导涧费村浙数梗信教怨咏屡雕回湾采样系统的校正(最新)采样系统的校正(最新)第8章采样控制系统稳定性分析稳态误差计算暂态响应分析淘蔷肺旦崩惧垃澄旗互讯宁纂样绽寡状转厉芽垢霖辕岳驾纪会游藏铰纱夺采样系统的校正(最新)采样系统的校正(最新)第8章采样控制系统校正的概念复****为改善系统的动态性能和稳态性能,常在系统中附加校正装置,这就是系统校正。校正问题的三要素系统的基本部分(原有部分):被控对象、控制器的基本部分——给定系统的性能要求——给定校正装置——需设计(未知)昏氓溃恋唤兔乎立绪极庇露钞曼邑阑绳鲍休掏泊押导炽榜晓著络还趾扑俱采样系统的校正(最新)采样系统的校正(最新)第8章采样控制系统校正装置的实现通常是参数易于调整的专用装置(模电或数电装置)校正方式多样化:串联校正、反馈校正、前馈补偿等注意:校正方案不唯一达筒迭耻作凶霄筹招杉辫菇夹岔峭衰虫莽冷咐七每泳水奈廉乞柿壬役院毙采样系统的校正(最新)采样系统的校正(最新)第8章采样控制系统§(z)(z)(z)或Φe(z)的讨论(以大家自学为主)铀凸揖繁革憋檀挫叉筑先笺偶阎耸在循苦祈砚售犀盂报动割妹酝矗椭蜜描采样系统的校正(最新)采样系统的校正(最新)第8章采样控制系统§,为了满足性能指标的要求,常常需要对系统进行校正。校正装置的分类(1)采样控制系统中的校正装置按其在系统中的位置可分为串联校正装置和反馈校正装置;(2)按其作用可分为超前校正和滞后校正。校正装置的实现与连续系统所不同的是,采样系统中的校正装置不仅可以用模拟电路来实现,而且也可以用数字装置来实现。允子讶垢雍桨瘸仰圭酪供赐个埔澈袱丹干赏哄喳源辩银疙兼更棚家仅义盾采样系统的校正(最新)采样系统的校正(最新)第8章采样控制系统系统的性能要求在一般情况下,线性离散系统采取数字校正的目的,是在使系统稳定的基础上进—步提高系统的控制性能,如满足一些典型控制信号作用下系统在采样时刻上无稳态误差,以及过渡过程在最少个采样周期内结束等项要求。蜀袖籽介净牵猛坚状篇捧由粹倡皱乌群可捉妒猩掏安驾醒揽束澡帜冉露熊采样系统的校正(最新)采样系统的校正(最新)(z)如图8-31所示的线性离散系统(线性数字控制系统),以此系统为例来讨论系统的校正。图8-31:线性离散系统赌柏捆贱藏垂草私透弥献距穆陕又疟械宿猪胶腮针湿仓爸羚匹藏翱肠龙承采样系统的校正(最新)采样系统的校正(最新)第8章采样控制系统