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统计过程控制(SPC)参考手册1992年版•1995年第2次印刷(仅新封面)©1992,©1995版权由克莱斯勒、福特和通用汽车公司所有本手册所描述控制图的选用程序确定要制定控制图的特性是计量型数据吗?性质上是否是均匀或不能按子组取样一例如:化学槽液批量油漆等?使用单值图X—MR是是关心的是不合格品率一即“坏”零件的百分比吗?关心的是不合格品数即单位零件不合格数吗?样本容量是否恒定?样本容量是否恒定?子组均值是否能很方便地计算?是否能方便地计算每个子组的S值?子组容量是否大于或等于9?使用c或u图使用u图使用p图使用中位数值使用X—R图使用X—R图使用X—s图否是是否是否否是是否是是否否使用np或p图注:本图假设测量系统已经过评价并且是适用的目录第I章持续改进及统计过程的控制概述第1节 预防与检测 5 第2节过程控制系统 7 第3节变差:普通及特殊原因 9 第4节局部措施和对系统采取措施 11 第5节过程控制手过程能力 13 第6节过程改进循环及过程控制 17 第7节控制图:过程控制的工具 21 第8节控制图的益处 25第II章 计量型数据控制图 27~ 第1节均值和极差图(X—R图) 29 A收集数据 31 B 计算控制限 37 C 过程控制解释 39 D 过程能力解释 57 第2节均值和标准差图(X—s图) 65 A收集数据 65 B 计算控制限 67 C 过程控制解释 67 D 过程能力解释 67 第3节中位数图(x—R图) 69 A收集数据 69 B 计算控制限 71 C 过程控制解释 71 D 过程能力解释 71 E 中位数图的替代方法 72 第4节单值和移动极差图(X—MR图) 75 A收集数据 75 B 计算控制限 75 C 过程控制解释 77 D 过程能力解释 77 第5节计量型数据的过程能力和过程性能的理解 79 A过程术语的定义 79 B 过程量度的定义 80 C 条件和假设的描述 81 D 使用过程量度的建议 83第II章 计数型数据控制图 89 第1节不合格品率的P图 91 A收集数据 93 B 计算控制限 95 C 过程控制解释 99 D 过程能力解释 107 第2节不合格品数的np图 111 A收集数据 111 B 计算控制限 111 C 过程控制解释 111 D 过程能力解释 111 第3节不合格数的c图 113 A收集数据 113 B 计算控制限 113 C 过程控制解释 113 D 过程能力解释 113 第4节单位产品不合格数据的u图 115 A收集数据 115 B 计算控制限 115 C 过程控制解释 117 D 过程能力解释 117第IV章 过程测量系统分析 119 第1节引言 119 第2节均值和极差法 121 A 进行研究 121 B 计算 122 C 结果分析 123 D 示例 127附录A 关于分组的一些评述 131附录B 过度调整 137附录C 本手册所描述控制图的选用程序 139附录D Cpm与其它指数(USL—T)=(T—LSL)的关系 141附录E 控制图的常数和公式表 143附录F 标准正态分布 147附录H 参考文献及建议的读物 159附录I 可复制的控制图表 161插图目录图名称 页次过程控制系统 6变差:普通及特殊原因 8过程控制及过程能力 12过程改进循规蹈矩环 16控制图 20计量型数据——测量中间或最终过程输出的结果 26X—R图 30X—R图建立数据 32X—的图“初始研究” 34有控制限的X—R图 36R图——有超出控制限的点存在 38R图——链(极差) 40R图——非随机模式 42X—R图——重新计算控制限(极差) 44X图——超出控制限的点 46X图——链 48X图——非随模式 50X—R图——重新计算控制限 52X—R图——延长控制限 54相对无规范限界的过程变差 56计算过程能力 58评价过程能力 60数据收集 64X和s图 66中位数控制图 68中位数控制图—解释 70单值移动极差图 74单值和移动极差图的解释 76“目标柱”与损失函数的比较 82调整过程与要求一致 84计数型数据 88不合格品率p图——数据收集 92不合格品率p图——计算控制限制—表1 9433不合格品率p图——计算控制限制—表2 96不合格品率p图——超出控制限制的点 98不合格品率p图——链 100不合格品率p图——非随机图形 102不合格品率p图——重新计算控制限 104不合格品数的np图 110不合格品数的c图 112交易会产品不合格数的u图 114u图——重新计算控制限 116量具的重复性和再现性数据记录表 124量具的重复性和再现性报告 125量具的重复性和再现笥数据表——示例 128量具的重复性和再现性报告——示例 129第I章持续改进及统计过程控制概述 在今天的