The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing.pdf


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文档列表 文档介绍
TableofContents
TheBasicsH
Obieives、1
ScientfeEngineeringNoutonE1
Velee12
Conent12
Restence、.12
UsingOhnsawieTextDewieSpeifcatons1

DigialLegi18
OvervicwofSemiconduclorsn月e
Obieeh2
ATEAuenatedTestEqipoen2
SemicenducerTechologtes
DigialandAnalogCireate
TypesefAIESyenx
Teserhoadboant
DeicelhandlerE
TenponleForcingUn
IntroductiontoTest
Obieeie
BascTen
WiatksTheConeetWayoTeon
TheTestSysen
ThepMU
ThePnecmonies
BsicRalesofTestEngneerng。
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BescTens
Thepespnpciicalon,
TheTestSpeif
TheDeviepecifcaton
TestConitonsndUnit

PanamsertatApplyeFunetemalandACTestng
LogicalRnctons
ResdngDeieeSpecifcatons
256x4RAMSpeficatens、
InterrengteDeiceSpediicaton
DeneeSpecifcatepeantTestCodiions
OpensandShortsFMUMethod
Obeaes
WiyTethroposandtor
OpensandSheresSerialSatcMeted
VerifyingDCParametery
Objcctves
BaseTen
Binig
ProgamFlow.
TescSummany
DCTestsandheHiddenResistnee、
OhmsLaw
VoHIOH.
voioL、
IDDGrossCorent
IDDSeteComsnt、
IDpQ
IDDDynamieConent、
IpatCarmentsELEH
ResistvenpatsPallrupsandaiHdows
OogpatFaneat、
HighInpedaneeCormentu0ZL丨Oz丨丨
IpatelampVD
OagputStonCieoitCumentti08
VerifyingFunctionalParameters
Obisstvesi
BesieTenny
FunctionalTesing
TheTetCyele
IpatDage
InpatSigaiFormat
DevelepmgeInpotSieralmmg丛
OugpatDat。
TestngOoput
DeelopigOupatSignalmg
VeserDa、
ExecutngsuneionlTes
Functonalspeciicatons
GnossFonetonglTess
EquationpasedT
TestngaDecew、
SampleDevieSpecabon.
SpeoifcatonTestCondiionsfartieClsiedlnvener.、
CnossFunetomalTestConditonsartielectedinverer
Testpogamenent
SndardFunetonalTest
OpensandShorsFunctonalMetiod、
LVi
voUiOLYOHOHFonctealTes
ResisiveOugpatLoading.
Fonefonal7Sete一HighimpedanceTestng
OpenDninOpenSourceOutpugs
TestingACParameters
Obiestves、0E弼.
ACPanmenicTestng81
Read&Resond
GoNegoTesing
Compmopses人
SendarACPaameer.
ScupTinc
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ropagationDeisyMesstrenent.
MinimmPateWidts
Masimone
OaputEmble
OuputDiatleTine
ACSpesifcafonsfom25684SuieRANDaShest。

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  • 上传人 bolee65
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  • 时间2014-04-17
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