波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪.doc

波长色散 X荧光分析仪与能量色散 X荧光分析仪针对 ROHS 指令的应用比较随着欧盟 ROHS 指令实施日期的日益临近, 国内越来越多的相关企业在积极的思考和寻找应对的方案;X 荧光分析技术( XRF ) 作为一种方便有效的快速分析手段,正迅速被业内人士所了解和应用。目前在中国市场上,应用于 ROSH 指令的 X 荧光分析仪均为能量色散类型;一般情况下,波长色散类型的 X 荧光分析仪器的准确度比能量色散类型的仪器要高很多;但应用于 ROHS 指令的场合时, 波长色散和能量色散则各有优缺点, 测量对象各有侧重; 以下将从几个方面对两种类型的仪器进行比较和说明: 波长色散能量色散( Si-Pin )型( SDD )型测量精度 20~ 50ppm 200 ~ 300ppm 100 ~ 200ppm 测量时间 1~2 分钟 4~6 分钟 3~5 分钟被测样品要求规则形状需要制样可以不规则形状可以不规则形状最佳应用范围原料半成品成品电子元器件原料、半成品成品电子元器件能量分辨率高,约 15eV 较低,约 160eV 较低,约 160eV 仪器类型性能指标荧光强度高低较高技术复杂程度复杂简单较复杂使用寿命> 10年>5年>5年仪器价格 46 万(国产) 25 万左右(国产) 60 万左右(进口) 50 万(国产) 1 、测量精度:尽管目前各家能量色散仪器(均为 Si-Pin 类型)生产商和销售商都给出了很高的技术指标, 但在实际应用中( 特别在被测样品不进行处理的情况下), 真正可以期待的准确度都在 200 ~ 300pp m 之间(测量塑料中有害元素时,准确度会好一些;对不规则样品,则精度会更差) ;同时,对于同类型的仪器,进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别( 基本配置), 但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散X 荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型高一个数量级, 基本在 20~ 50ppm 左右。 2 、测量时间:由于波长色散配备较大功率的 X 光管,荧光强度高; 因此, 波长色散仪器占用较短的测量时间, 便能达到较高的测量精度。 3、被测量样品的要求: 由于技术特点的差异, 波长色散 X 荧光分析仪需要对被测量样品进行简单的处理; 对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑, 对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理, 相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器最大的优势在于: 可以对样品不作处理直接进行测量, 对样品也没有任何损坏, 直接用于生产的过程控制中; 但需要强调指出的是: 从荧光理论上讲, 被测量样品的预先处理是必须的, 对于能量色散仪器来说, 我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要,但即使采用了技术校正的