电子元器件抽检方案.docx

电子元器件检验规范
编号:
一、 目的
作为IQC检验PCB物料之依据。
二、 适用范围
适用于本公司所有之PCB检验。
三、 抽样计划
依据MIL-STD-105D，LEVEL II正常单次抽样计划；具体抽样方式请参照国标 可接 受，否则不可接受
Pin氧化生锈，或 上锡不良，均不可 接受
元器件角弯曲，偏 位，缺损或少角， 均不可接受
备：凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装 的，IQC仅进行包装检验，并加盖检验印章，该IC在在SMT上拉前须拆封检验，拆封 后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色，若已变成 粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。
编制： 审核:
贴片元器件检验规范（电容，电阻，电感…）
编号：
一、 目的
便于IQC人员检验贴片元器件类物料
二、 适用范围
适用于本公司有贴片元器件（电容，电阻，电感…）之检验。
三、 抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVEL II正常单次抽样计划，具体抽样方式请参考国标《GB2828- 2012》
四、 允收水准（AQL）
（CR）： 0
（MA）：
（MI）:
五、 参考文件
《LCR数字电桥操作指南》
《数字万用表操作指南》
六、检验项目定义
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检 单核对外包装
或LABEL上的 P/N及实物是 否都正确，任 何有误，均不 可接受
包装必须采用 防静电包装， 否则不可接受
数量检验
MA
实际包装数量 与LABEL上的 数量是否相 同，若不同不 接受，实际来 料数量与送检 单上的数量是 否吻合，若不 吻合，不接受
外观检验
MA
Marking错或模 糊不清难以辨 认不可接受
来料名称错， 或不同规格的 混装，不可」接 受
本体变形，或 有肉眼可见的 裂纹等不可接 受
元器件封装材 料表面因封装 过程中留下的 沙孔，且露出 基板，不可接 受
Pin氧化生锈， 或上锡不良， 不可接受
电性能检验
MA
元器件实际测 量值超出偏差 范围内
二极管类型
LED
选择数字万用表的_极管档，正向测量,LED需发出与要求相符颜色 的光，而反向测量不发光，否则该—极管不合格。
注：有标记的一端为负极
其它_极管
选择数字万用表的_极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量 读数需无穷大，否则该—极管不合格 注：有颜色标记的一端未负极。
备注
抽样计划说明：对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为 单位，样本数也以盘为单位，从抽检的每盘中取3到5片元器件进 行检测,AQL不变，检验方法见"匕日数字电桥测试仪操作指导书" 和"数字万用表操作指南"，二极管没有电性能测试项
编制：
审核:
排针&插槽（座）类检验规范
编号:
一、 目的
作为IQC人员检验排针&插槽（